目錄:北京歐屹科技有限公司>>折射儀>> PHL雙折射測量儀PA-300
PHL雙折射測量儀PA-300主要特點：
操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。
PHL雙折射測量儀PA-300應(yīng)用領(lǐng)域：
光學(xué)鏡片
智能手機(jī)玻璃基板
碳化硅，藍(lán)寶石等
技術(shù)參數(shù)：
| 項次 | 項目 | 具體參數(shù) |
| 1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】 |
| 2 | 測量波長 | 520nm |
| 3 | 雙折射測量范圍 | 0-130nm |
| 4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
| 5 | 測量重復(fù)精度 | <1nm（西格瑪） |
| 6 | 視野尺寸 | 27x36mm到99x132mm（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 7 | 選配鏡頭視野 | 低至7x8.4（擴(kuò)束鏡頭） |
| 8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制 |
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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