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參考價(jià)	面議

折射儀

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雙折射測量儀PA-Micro是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。

詳細(xì)介紹

雙折射測量儀PA-Micro主要特點(diǎn)：

操作簡單，測量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。
具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

雙折射測量儀PA-Micro應(yīng)用領(lǐng)域：

通信光纖
晶體
醫(yī)學(xué)細(xì)胞

技術(shù)參數(shù)：

項(xiàng)次	項(xiàng)目	具體參數(shù)
1	輸出項(xiàng)目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測量波長	520nm

3	雙折射測量范圍	0-130nm

4	測量小分辨率	0.001nm

5	測量重復(fù)精度	<1nm（西格瑪）

6	視野尺寸	142x170um到3.5x4.2mm (×2，×5，×10，×20，×50)

7	選配鏡頭視野	無

8	選配功能	實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實(shí)現(xiàn)外部控制