目錄:北京歐屹科技有限公司>>折射儀>> PA-200超寬范圍雙折射測(cè)試儀
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更新時(shí)間：2022-03-04 16:03:19瀏覽次數(shù)：1482評(píng)價(jià)
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日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學(xué)的光子晶體的研究技術(shù)為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術(shù)世界，并由此開(kāi)發(fā)出的測(cè)量?jī)x器。
主要產(chǎn)品分四部分：
n 光子晶體光學(xué)元件；
雙折射和相位差評(píng)價(jià)系統(tǒng)；
膜厚測(cè)試儀；
偏振成像相機(jī)。
『相位差』『雙折射』『內(nèi)部應(yīng)力』測(cè)量裝置 WPA/PA系列
快速定量測(cè)量透明材料和薄膜2維平面內(nèi)的
相位差、雙折射和內(nèi)部應(yīng)力應(yīng)變分布
PA/WPA系統(tǒng)特點(diǎn)：
操作簡(jiǎn)單/快速測(cè)定：*的偏振成像傳感器進(jìn)行簡(jiǎn)單的和快速的操作即可測(cè)量相位差的分布
2D數(shù)據(jù)的多方面分析功能：二維數(shù)據(jù)的強(qiáng)大分析功能，能夠直觀(guān)解釋被測(cè)樣品的特性。
大相位差測(cè)試能力（WPA系列）：通過(guò)對(duì)三組不同波長(zhǎng)的測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算，WPA系統(tǒng)可以測(cè)量出幾千nm范圍內(nèi)的相位差。
主要應(yīng)用
· 光學(xué)零件（鏡片、）
· 智能手機(jī)玻璃基板
· 有機(jī)材料（透明晶圓）
參數(shù)指標(biāo)
型號(hào) | PA-200 | PA-200-L |
測(cè)量范圍 | 0~ 130nm | |
重復(fù)性 | <1.0nm | |
像素?cái)?shù) | 1120×868（≒100萬(wàn)）pixels | |
測(cè)量波長(zhǎng) | 520nm, | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀(guān)測(cè)到的大面積 | 27×36 mm ～ 99×132mm | 36×48 mm ～ 240×320mm |
重量 | 12kg | 22kg |
數(shù)據(jù)接口 | GigE（攝像機(jī)信號(hào)） RS232C（電機(jī)控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | WPA-View | |
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