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簡(jiǎn)介：CNC機(jī)床、CMM、導(dǎo)螺桿及DRO直線校驗(yàn)

簡(jiǎn)介：1D激光主要可以測(cè)量定位誤差3D激光可以測(cè)量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測(cè)量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動(dòng)角

簡(jiǎn)介：雷尼紹renishaw激光干涉儀XL-80雷尼紹Renishaw的新型XL-80激光干涉儀能夠滿足和超越實(shí)際工業(yè)規(guī)范水平，提供4m/szui大的測(cè)量速度和50kHz記錄速率。即使在zui高的數(shù)據(jù)記...

簡(jiǎn)介：供應(yīng)德國(guó)Jenaer公司生產(chǎn)的雙頻激光干涉儀。

簡(jiǎn)介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。用于多種少量的小型鏡片的生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)上的快速品質(zhì)檢查。通過(guò)簡(jiǎn)單操作來(lái)進(jìn)行檢查。

簡(jiǎn)介：低價(jià)格的小型LD干涉儀。手掌大小、操作簡(jiǎn)便。只要放置被檢鏡片，便可簡(jiǎn)單迅速地進(jìn)行測(cè)定。

簡(jiǎn)介：透過(guò)波面測(cè)定干涉儀KIF-PU是解析光學(xué)部品的透過(guò)波面像差的干涉儀系統(tǒng)。特別在光讀取頭用的生產(chǎn)線中，是評(píng)價(jià)對(duì)物透鏡以及準(zhǔn)直透鏡的透過(guò)波面的系統(tǒng)。

簡(jiǎn)介：應(yīng)用了KIF-10A，用于測(cè)量光圈數(shù)目的測(cè)定儀。通過(guò)光圈數(shù)目與元器的比較，可簡(jiǎn)單地短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)定。因采用非接觸的測(cè)定方式，不用擔(dān)心會(huì)破壞鏡片面以及元器。是在制造現(xiàn)場(chǎng)的工序測(cè)定中*的新檢測(cè)工具。

簡(jiǎn)介：使用在生產(chǎn)制造顯微鏡·光學(xué)拾波等過(guò)程中培育的小口徑測(cè)量技術(shù)，開(kāi)發(fā)而來(lái)的使用簡(jiǎn)單小型干涉儀。

簡(jiǎn)介：安裝在KIF-202/KIF-402系列干涉儀上，通過(guò)條紋掃描方式取得被測(cè)物的波面相位并顯示且保存測(cè)定結(jié)果的干涉條紋解析系統(tǒng)。用于*以及生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)中對(duì)平面以及球面的面精度進(jìn)行定量評(píng)價(jià)。