小型·操作簡便
　　充分考慮作業(yè)現(xiàn)場內(nèi)的使用環(huán)境，占地空間小，方便操作。

可測量倍率（1×、2.5×）
　　測定倍率擴大到2.5×，可簡單測量小件物體。與Φ60-Φ15（可選件）的孔徑轉(zhuǎn)換器組合匹配使用的話，可zui大擴大10倍。（平面測定時）

參照鏡片λ/20 高精度
　　因為本社加工技術(shù)，參照鏡為λ/20高精度鏡片。根據(jù)客戶選擇的需要，也可提供λ/30 的產(chǎn)品。

豐富的附屬備件群
　　我社準(zhǔn)備了豐富的附屬備件。如使用干涉條紋解析裝置（KIF-FSPC/FS2000），可進(jìn)行高精度條紋解析。

主要用途：
· 鏡片研磨面的面精度的測定。
· 塑料成型件的面精度的測定。
· 各種金屬切削面的面精度的測定。 

規(guī)格：  

測定方法	斐佐型干涉方式
口徑	Φ60（使用可選件為Φ6-Φ102）mm
被檢物大小	Φ6-Φ102（平面測定時）mm
倍率	1×、2.5×（本體2 段切換） 4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔徑轉(zhuǎn)換器時）
參照面精度	λ/20（球面以及平面）
光源	He-Ne（632.8nm）激光
電源	AC100V 50/60Hz
本體外形尺寸	220（W）×360（D）×740（H）mm
本體重量	約33kg
標(biāo)準(zhǔn)附屬品	9型TV顯示器、5軸調(diào)整受臺

* 特殊定單，我社可對應(yīng)15Omm沖程延長樣式。
各參照鏡可測量范圍（表示KIF-202L標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式時的可測定范圍） 

參照鏡			檢查可能曲率半徑		檢查可能zui大口徑
FNO	zui終	R R/D	凸	凹	凸	凹
0.6	16.8	0.65	1~16	1~295	24.6	200
0.7	26.2	0.75	2~26	2~298	34.6	200
1.0	45.5	1.02	2~45	3~283	44.1	200
1.5	75.2	1.51	2~75	2~251	49.7	166.2
2.0	105.0	2.0	2~105	2~220	52.5	110
3.0	163.8	3.0	2~163	2~159	54.3	53
6.0	347.6	6.0	16~347	-	57.8	-

※凹面?zhèn)鹊臏y定可能曲率半徑將會根據(jù)定盤的大小、干涉儀的設(shè)置方向（縱橫）等機械的尺寸、以及線性卡尺、解析裝置的安裝而不同。
●如必須測定曲率半徑在R2以下的場合，我社可以提供更加適合的規(guī)格，請與我社。
各標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格參照鏡的可測定范圍
KIF-202L （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

參照鏡			KIF-202L（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式）
型號	zui終R	R/D	測定可能曲率半徑				測定可能zui大口徑
			干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有		干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
F0.6	16.8	0.65	1~16	1~295	1~16	1~205	24.6	200	24.6	200
F0.7	26.2	0.75	2~26	2~298	2~26	2~208	34.6	200	34.6	200
F1.0	45.5	1.02	2~45	2~283	2~45	2~193	44.1	200	44.1	189.2
F1.5	75.2	1.51	2~75	2~251	2~75	2~161	49.7	166.2	49.7	106.6
F2.0	105.0	2.0	2~105	2~220	2~105	2~130	52.5	110	52.5	65
F3.0	163.8	3.0	2~163	2~159	2~163	2~69	54.3	53	54.3	23
F6.0	347.6	6.0	16~347	-	106~347	-	57.8	-	57.8	-

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
各特別規(guī)格參照鏡的測定可能范圍（受注生產(chǎn)品）
*本社準(zhǔn)備了2 英寸的特別規(guī)格參照鏡，可用于較大曲率半徑的測定。
*凹鏡片測定用（發(fā)散型）樣式有4 種，凸鏡片測定用（集光型）樣式有3 種?？晒┠S意選擇。
KIF-202L （標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

特別規(guī)格參照鏡			KIF-202L（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格樣式）
型號	zui終R	R/D	測定可能曲率半徑				測定可能zui大口徑
			干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有		干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
RS60-C150	-150.3	1.93	-	160~464	-	160~370	-	200	-	191.7
RS60-C300	-300.1	4.62	-	310~626	-	310~530	-	135.4	-	114.7
RS60-C390	-389.3	6.03	-	400~715	-	400~620	-	118.5	-	102.8
RS60-C490	-482.9	7.54	-	495~806	-	495~711	-	106.8	-	94.2
RS60-V520	519.1	8.85	193~509	-	290~509	-	57.5	-	57.5	-
RS60-V670	664.1	11.56	338~654	-	433~654	-	56.5	-	56.5	-
RS60-V750	750.3	13.08	426~740	-	521~740	-	56.5	-	56.5	-

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
KIF-202LL（長距離：150mm沖程延長規(guī)格）樣式時的測定可能范圍（mm） 

特別規(guī)格參照鏡			KIF-202LL（長距離：150mm 沖程延長規(guī)格）樣式
型號	zui終R	R/D	測定可能曲率半徑				測定可能zui大口徑
			干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有		干擾條紋掃描機組無		干擾條紋掃描機組有
			凸	凹	凸	凹	凸	凹	凸	凹
RS60-C150	-150.3	1.93	-	160~614	-	160~520	-	200	-	200
RS60-C300	-300.1	4.62	-	310~776	-	310~680	-	167.9	-	147.1
RS60-C390	-389.3	6.03	-	400~865	-	400~770	-	143.4	-	127.6
RS60-C490	-482.9	7.54	-	495~956	-	495~861	-	126.7	-	114.1
RS60-V520	519.1	8.85	43~509	-	140~509	-	57.5	-	57.5	-
RS60-V670	664.1	11.56	188~654	-	283~654	-	56.5	-	56.5	-
RS60-V750	750.3	13.08	276~740	-	371~740	-	56.5	-	56.5	-

表示被檢物的厚度為零時的數(shù)值。
注明：測定可能zui大曲率半徑以及測定可能zui大口徑，將會根據(jù)干涉儀的受臺夾具等機械尺寸、被檢鏡片的大小以及減振板、線性卡尺等的安裝而改變。但是歸根結(jié)底因為目視，故不能保證。