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最新產(chǎn)品
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日立離子研磨裝置IM4000
面議0簡(jiǎn)介：日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHIIonMillingSystemIM4000）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHIIonMilli...
深圳市汐品科技有限公司 產(chǎn)地：深圳市我要詢價(jià) -
離子研磨系統(tǒng)ArBlade5000
面議0簡(jiǎn)介：日立ArBlade5000離子研磨系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)高產(chǎn)量，并制備廣域橫截面樣品。離子研磨系統(tǒng)使用通過(guò)在表面上照射氬離子束引起的濺射效應(yīng)來(lái)拋光樣品的表面。樣品預(yù)處理系統(tǒng)可以用于電子和材料等各個(gè)領(lǐng)域的研發(fā)...
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日立中型掃描電鏡SU3800 / SU3900
面議0簡(jiǎn)介：1)支持超大/超重樣品測(cè)試可搭載的樣品尺寸：“SU3800”標(biāo)配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)高度為80mm、重量為2kg的樣品?！癝U3900”作為日立的大型掃描電鏡，標(biāo)配可搭載直徑3...
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臺(tái)式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
面議0簡(jiǎn)介：臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念，開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上，我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用...
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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
面議0簡(jiǎn)介：FlexSEM1000II，憑借全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測(cè)器，可在加速電壓20kV下實(shí)現(xiàn)4.0nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對(duì)焦自動(dòng)調(diào)節(jié)功能，可以在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。此...
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熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000
面議0簡(jiǎn)介：
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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000
面議0簡(jiǎn)介：核心理念采用優(yōu)異的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細(xì)結(jié)構(gòu)等多種檢測(cè)信號(hào)。全新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)，使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背散射電子等信號(hào)，用戶可以在短時(shí)間內(nèi)獲...
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超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus系列
面議0簡(jiǎn)介：沿用"SU8200系列"的冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*2采用電子束在Flashing后出現(xiàn)的高亮度穩(wěn)定區(qū)域作為穩(wěn)定觀察的區(qū)間，使得低加速電壓條件下兼?zhèn)涓叻直嬗^察和分析的性能(Regulus8240/8230/...
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國(guó)儀量子 SEM5000場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
面議0簡(jiǎn)介：SEM5000是一款分辨率高、功能豐富的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。的鏡筒設(shè)計(jì)，高壓隧道技術(shù)（SuperTunnel）、低像差無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了低電壓高分辨率成像，同時(shí)磁性樣品可適用。光學(xué)導(dǎo)航、完善...
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國(guó)儀量子 SEM4000Pro場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
面議0簡(jiǎn)介：SEM4000Pro是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì)，束流可達(dá)200nA，在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì)。標(biāo)配低真空模式...
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