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PVC環(huán)/壓樣環(huán)/X射線熒光光譜儀壓片機(jī)專用塑料環(huán)-華普通用 參考價(jià)：面議
應(yīng)用于X射線熒光光譜儀配用的壓片機(jī)作為壓樣模具。
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用 參考價(jià)：面議
全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計(jì)量測(cè)量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖
日本理學(xué)連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用 參考價(jià)：面議
Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計(jì)。
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用 參考價(jià)：面議
日本理學(xué)全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測(cè)量超痕量元素表面污染的測(cè)量
日本理學(xué)MiniFlex 600 臺(tái)式X射線衍射儀-華普通用 參考價(jià)：面議
理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。
日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA 3650-華普通用 參考價(jià)：面議
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評(píng)估的X射線熒光分析儀同時(shí)對(duì)各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無損、非接觸式分析
日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD） 參考價(jià)：面議
日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測(cè)量
日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231-華普通用 參考價(jià)：面議
日本理學(xué)同步熱分析儀DSC8231測(cè)量體重變化和吸熱或放熱反應(yīng)
日本理學(xué)差示掃描量熱儀DSC8231-華普通用 參考價(jià)：面議
差示掃描量熱儀DSC8231差示掃描量熱法（DSC）量化熔化、轉(zhuǎn)變、結(jié)晶和玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等反應(yīng)中的能量變化，主要用于研發(fā);以及聚合物、制藥領(lǐng)域的質(zhì)量控制。
德國(guó)蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350-華普通用 參考價(jià)：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 350結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
德國(guó)蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550-華普通用 參考價(jià)：面議
蔡司FIB雙束掃描電鏡Crossbeam 550結(jié)合了高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。
德國(guó)蔡司多束掃描電子顯微鏡MultiSEM系列-華普通用 參考價(jià)：面議
德國(guó)蔡司 MultiSEM 研究合作計(jì)劃速度非凡的掃描電子顯微鏡
福祿克Raytek® Compact MI3 紅外測(cè)溫探頭/高溫計(jì)-華普通用 參考價(jià)：面議
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續(xù)非接觸式溫度監(jiān)測(cè)的新一代的性能和創(chuàng)新，并廣泛應(yīng)用于OEM應(yīng)用和制造工藝中。
BUCHI Pure 制備色譜系統(tǒng)-華普通用 參考價(jià)：面議
Pure色譜儀非常的緊湊，確保的安全性并且易于應(yīng)用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。
Chroma Model3650 SoC測(cè)試系統(tǒng)-華普通用 參考價(jià)：面議
Chroma 3650可在一個(gè)測(cè)試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測(cè)試功能， 可同時(shí)測(cè)試32 個(gè)待測(cè)晶片，以提升量產(chǎn)效能。
福祿克ThermoView TV40 工業(yè)固定式熱成像系統(tǒng)-華普通用 參考價(jià)：面議
全天候監(jiān)控您的工藝、產(chǎn)品和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)
福祿克Raytek® MP150 高速線掃描紅外測(cè)溫儀-華普通用 參考價(jià)：面議
雷泰MP150紅外行掃描儀是專為使用在高要求的工業(yè)環(huán)境中使用，并可以測(cè)得運(yùn)動(dòng)物體的準(zhǔn)確溫度圖像。
福祿克Raynger 3i Plus手持式紅外測(cè)溫儀-華普通用 參考價(jià)：面議
Raytek® Raynger 3i Plus 高溫手持式紅外測(cè)溫儀設(shè)計(jì)用于滿足眾多工業(yè)應(yīng)用中的過程性能要求，包括原生和再生金屬加工以及石化和發(fā)電廠運(yùn)行...
日本理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
40 多年來，日本理學(xué)Simultix 15波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具
日本島津AGS-X系列電子試驗(yàn)機(jī)-華普通用 參考價(jià)：面議
AGS-X系列試驗(yàn)機(jī)采用主機(jī)與控制裝置一體化結(jié)構(gòu)，占地面積小，是操作簡(jiǎn)便的小型化電子試驗(yàn)機(jī)。該系列機(jī)已經(jīng)取得國(guó)際CE認(rèn)證，是目前業(yè)內(nèi)性價(jià)比較高的試驗(yàn)機(jī)。
日本島津EZ-Test系列單柱式電子試驗(yàn)機(jī)-華普通用 參考價(jià)：面議
電子試驗(yàn)機(jī)易于使用、緊湊、時(shí)尚的框架包含增強(qiáng)功能,使測(cè)試能夠高效進(jìn)行。
Keithley 4200A-SCS半導(dǎo)體參數(shù)分析儀-華普通用 參考價(jià)：面議
使用 4200A-SCS參數(shù)分析儀（參數(shù)測(cè)試儀）加快各類材料、半導(dǎo)體器件和*工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內(nèi)性能電學(xué)特性...
功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)DT10-華普通用 參考價(jià)：面議
專業(yè)測(cè)試SiC及Si基IGBT、MOSFET動(dòng)態(tài)時(shí)間參數(shù)特性，測(cè)試范圍可達(dá)3500V 4000A
ZEISS SPECTRUM系列三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x-華普通用 參考價(jià)：面議
ZEISS SPECTRUM系列擁有ZEISS SPECTRUM和ZEISS SPECTRUM plus, 其能夠讓您的生產(chǎn)確定性和效率將提升至一個(gè)新的高度。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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