Chroma 3650可在一個(gè)測試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升量產(chǎn)效能。

SoC測試系統(tǒng)主要特色：

50/100MHz測試工作頻率
512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
32 DUTS 平行測試功能
ADC/DAC 測試功能
硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器(Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項(xiàng)
好學(xué)易用的 Windows XP 作業(yè)環(huán)境
每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
彈性化的 MS C/C++ 程式語言
即時(shí)pattern編輯器，含F(xiàn)ail pin/address顯示
測試程式/測試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750, SC312)
多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等

實(shí)惠的VLSI和消費(fèi)性混合信號晶片產(chǎn)品的測試方案

平行測試功能 
Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)可在一個(gè)測試頭中，提供最多512 個(gè)數(shù)位通道，并具備高產(chǎn)能的平行測試功能， 可同時(shí)測試32 個(gè)待測晶片，以提升量產(chǎn)效 能。在Chroma 3650中，每片單一的LPC板擁有 64個(gè)數(shù)位通道，并結(jié)合具備高效能基礎(chǔ)的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4 個(gè)數(shù) 位通道的時(shí)序產(chǎn)生器，以提供50ps 以內(nèi)的精準(zhǔn) 度。

彈性化架構(gòu) 
雖然半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是一個(gè)變化快速的產(chǎn)業(yè)，但其 資產(chǎn)設(shè)備應(yīng)建立在可符合長時(shí)間需求的設(shè)備之 上。Chroma3650在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組等等選配，以確保符合未來多年的 測試需求。

CRISP (軟體測試環(huán)境) 
架構(gòu)在Windows XP作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650的 軟體測試環(huán)境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開發(fā)與量產(chǎn)需求 的軟體平臺。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控制模 組、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測試機(jī) 臺管理模組。透過親切的圖形人機(jī)介面的設(shè) 計(jì)，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯(cuò)工具，包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測試 參數(shù)，包含時(shí)序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產(chǎn)工具的部份，透過特別為操作員所設(shè)計(jì) 的OCI (Operator Control Interface)量產(chǎn)平臺，生 產(chǎn)人員可輕易地控制每個(gè)測試階段。它提供產(chǎn)品 導(dǎo)向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)、 晶圓針測機(jī)和送料機(jī)等裝置溝通。程式設(shè)計(jì)者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設(shè)定OCI 的各項(xiàng)參數(shù)，以符合生產(chǎn)環(huán)境的需求。而操 作員所需進(jìn)行的工作，只是選擇 程式設(shè)計(jì)者已規(guī)劃好的流 程，即可開始量產(chǎn)，大幅 降低生產(chǎn)線上的學(xué)習(xí)的時(shí) 間。

價(jià)位的測試解決方案 
要配合現(xiàn)今功能日趨復(fù)雜的IC晶片，需要具備功 能強(qiáng)大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達(dá)成具成本 效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時(shí)間和 整體成本來達(dá)成，而非只是簡單地減少測試系統(tǒng) 的價(jià)格而已。Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)即是可適用于 所有類型的應(yīng)用環(huán)境，例如 : 工程驗(yàn)證、晶圓測 試和成品測試。周邊設(shè)備。 Chroma 3650支援多種裝置的驅(qū)動(dòng)程式介面 (TTL& GPIB ) ，可進(jìn)行與晶圓針測機(jī)和送料機(jī)， 包括 SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTI-TEST、 ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等等裝 置之間的溝通。

應(yīng)用支援 
不管是新客戶或是現(xiàn)有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應(yīng)用支援，以確保所有的設(shè)計(jì)皆能精準(zhǔn)地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產(chǎn) 量、把握新興市場的機(jī)會、提高生產(chǎn)力、以創(chuàng)新 策略降低測試成本、或在尖峰負(fù)載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時(shí)解有效率的解決方案。