瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀產(chǎn)品簡介：
瑞士PROCEQ公司生產(chǎn)的Equotip550是一款基于動態(tài)回彈法原理的金屬硬度測量儀，能夠在現(xiàn)場自動將Leeb關(guān)聯(lián)至PortableRockweLL的實際壓痕硬度值。結(jié)合EquotipLeeb沖擊裝置可用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場檢測。儀器采用新功能觸摸屏裝置,改進的軟件可提供互動向?qū)А⒆詣域炞C進程、個性化選項和自定義報告功能。此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。Equotip沖擊裝置滿足眾多行業(yè)對無損硬度檢測的要求。
PortableRockwell測量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法，該方法非常適用于對刮擦敏感的、拋光的或細小的部件，以及對剖面和管道進行檢測。
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀功能特點：
根據(jù)需要自動轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）
自動更正沖擊方向確保高準確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時，準確度為 0.5%）
測量應用廣，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測要求。
每個沖擊裝置均可使用硬度應用廣和硬度測試塊，，用于定期驗證。
Equotip 550 Touchscreen Unit
模塊化概念： 利用各種型號的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應用
組合法： 在現(xiàn)場自動將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實際壓痕硬度值
引導向?qū)В?/span> 預定義工作流以增強進程可靠性和提高測量精度
自動驗證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗證
互動指南： 通過屏幕通知為您的應用獲取蕞相關(guān)的設(shè)置
轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗證轉(zhuǎn)換曲線
自定義報告： 模塊化報告處理器允許自定義測量報告
自動選項： 將 NDT 自動操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動檢測環(huán)境
外殼經(jīng)過特殊設(shè)計，可用于嚴苛的現(xiàn)場環(huán)境 (IP 54)，包括背帶、集成支架和遮陽蓋
高分辨率彩色顯示屏
電池使用時長 > 8h
8 GB 閃存
雙核處理器，支持各種通信接口和外圍接口： 探頭連接器、USB 主機、USB 裝置和以太網(wǎng)
通過直接兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品，實現(xiàn)未來保障投資
里氏回彈硬度檢測主要用于金屬測量，還可用于復合材料、橡膠和巖石檢測
適用于材料挑選、驗收和生產(chǎn)環(huán)節(jié)檢測
適用于重型和大型部件安裝前后的現(xiàn)場檢測
方便用于難進入或空間有限的金屬硬度檢測場地
Proceq 提供一些附件，例如一個測量夾或幾個支撐腳，適合在各種測試件結(jié)構(gòu)上進行手動硬度測量
瑞士博勢Proceq Equotip 550 Leeb金屬硬度檢測儀標準：
ASTM A956 / E140 / A370
ISO EN 16859
DIN 50156
GB/T 17394
JB/T 9378
準則
ASME CRTD-91
DGZfP Guideline MC 1
VDI/VDE Guideline 2616 Paper 1
Nordtest Technical Reports 99.12, 99.13, 99.36
瑞士博勢Proceq Equotip550 Leeb里氏回彈法金屬硬度檢測儀技術(shù)參數(shù)：
|
顯示屏 | 7” 彩色顯示屏 800 x 480 像素 |
內(nèi)存 | 內(nèi)置 8 GB 閃存
（可存儲多達 1000000 個測量值） |
區(qū)域設(shè)置 | 公制和英制單位，支持多種語言和時區(qū) |
電池 | 鋰聚合物，3.6 V、14.0 Ah |
電池使用時長 | > 8h（標準操作模式下） |
電源輸入 | 12 V +/-25 % / 1.5 A |
重量（顯示裝置） | 大約 1525 g（含電池） |
尺寸 | 250 x 162 x 62 mm |
海拔 | 2500 mm 海拔高度 |
濕度 | < 95?%RH，非冷凝 |
操作溫度 | 0°C 至 30°C（32 至 86°F）
（正在充電且儀器正在運行）
0°C 至 40°C（32 至 104°F）
（正在充電且儀器關(guān)閉）
-10°C 至 50°C（14 至 122°F）
（未充電） |
環(huán)境 | 適合室內(nèi)與室外使用 |
IP 等級 | IP 54 |
污染等級 | 2 |
安裝類別 | 2 |
Equotip Leeb 沖擊裝置:
|
測量范圍 | 1-999 HL |
測量精度 | ± 4 HL（800 HL 時為 0.5 %） |
分辨率 | 1 HL；1 HV；1 HB；0.1 HRA；0.1 HRB；
0.1 HRC；0.1 HS；1 MPa (N/mm2) |
沖擊方向 | 自動補償（DL 探頭除外） |
沖擊能量 | D、DC、E、S 探頭為 11.5 Nmm DL 探頭為 11.1 Nmm C 探頭為 3.0 Nmm G 探頭為 90.0 Nmm |
沖擊體質(zhì)量 | D、DC、E、S 探頭為 5.45 克（0.2 盎司） DL 探頭為 7.25 克（0.26 盎司） C 探頭為 3.10 克（0.11 盎司） G 探頭為 20.0 克（0.71 盎司） |
球壓頭 | C、D、DC 探頭為碳化鎢，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） DL 探頭為碳化鎢，直徑 2.78 毫米
（0.11 英寸） G 探頭為碳化鎢，直徑 5.0 毫米（0.2 英寸） S 探頭為陶瓷，直徑 3.0 毫米（0.12 英寸） E 探頭為多晶金剛石，直徑
3.0 毫米（0.12 英寸） |
操作溫度 | –10?C 至 50?C（14 至 122°F） |
保修
電子部件的保修期統(tǒng)一為 2 年
可選擇zui多3年時間的有償續(xù)保修
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