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- 公司名稱 深圳市恩陽電子有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 深圳市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/12/20 16:01:01
- 訪問次數(shù)
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XAVU鍍層測厚儀XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀!此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準(zhǔn)確度
XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀! 此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準(zhǔn)確度。 搭配微聚焦X射線發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),以及高敏變
XAVU系列能量色散X熒光光譜分析儀,是一款配備SDD探測器的高效率光譜分析儀!
此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測,用于液體中高含量金屬成分的檢測,滿足高測試精度和高準(zhǔn)確度。
搭配微聚焦X射線發(fā)生器和的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,可測試極微小和異形樣品。
含量分析檢出限1ppm,可檢測鍍層厚度0.005um ,最小測量面積0.04mm² · 凹槽深度測量范圍可達(dá)0至30mm,特殊要求可達(dá)90mm。
外置的高精密微型滑軌,可以快速控制樣品移動,移動精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的樣品測試都可輕松操作。
技術(shù)參數(shù): |
1.探測器:半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器 |
2.探測器分辨率:130±5ev |
3.涂鍍層分析范圍:各種元素及有機物 |
4.可一次性同時分析:23層鍍層,24種元素 |
5.最小測量面積:0.04mm² |
6.對焦距離:0-30mm,特殊要求可達(dá)90mm |
7.樣品腔尺寸:500mm×360mm×215mm |
8.儀器尺寸:550mm×480mm×470mm |
9.儀器重量:45kg |
儀器配置: |
1.微焦X射線發(fā)生器 |
2.光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng) |
3.高敏變焦測距裝置 |
4.半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器 |
5.的數(shù)字多道分析 |
6.高精度微型移動滑軌 |
7.標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe 5um |
8.標(biāo)準(zhǔn)片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
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