光譜共焦測(cè)厚儀測(cè)量原理與應(yīng)用特點(diǎn)測(cè)量傳感器：高精度光譜共焦位移傳感器

光譜共焦測(cè)厚儀測(cè)量原理與應(yīng)用特點(diǎn)

測(cè)量傳感器：高精度光譜共焦位移傳感器。

測(cè)量方式：反射式光學(xué)幾何厚度測(cè)量。

在測(cè)量過(guò)程中，由光源發(fā)出的一束寬光譜的混色光，通過(guò)色散鏡頭發(fā)生光譜色散，形成不同波長(zhǎng)的單色光。由于每一種單色光的波長(zhǎng)不同，在光軸空間上形成一組連續(xù)的焦點(diǎn)，每一個(gè)波長(zhǎng)的焦點(diǎn)都對(duì)應(yīng)一個(gè)距離值。測(cè)量光射到物體表面被反射回來(lái)，只有滿足共焦條件的單色光，可以通過(guò)光路小孔被光譜儀感測(cè)到，通過(guò)計(jì)算被感測(cè)到的波長(zhǎng)，換算獲得距離值。

藍(lán)冰河光譜共焦測(cè)厚儀具有高精度、高穩(wěn)定性、大角度、高采樣頻率等測(cè)量特性，對(duì)于塑料薄膜、玻璃、高光金屬等透明或不透明的鏡面/半鏡面反射材料，以及多層透明材料厚度測(cè)量具有優(yōu)勢(shì)。

光譜共焦測(cè)厚儀根據(jù)不同材料測(cè)量需求，可采用單測(cè)頭測(cè)厚儀或雙測(cè)頭測(cè)量。對(duì)于透明材料多采用單測(cè)頭測(cè)量。

雙測(cè)頭測(cè)厚儀采用大理石或鑄鐵C型掃描架，單測(cè)頭測(cè)厚儀采用π型龍門(mén)式掃描架。

各種材料的測(cè)量模式如下圖：

技術(shù)特色和強(qiáng)大的軟件功能模塊

華為軟件架構(gòu)師和大數(shù)據(jù)專家量身打造的新一代在線測(cè)量軟件系統(tǒng)，功能更強(qiáng)大，算法更科學(xué)。

采用光譜共焦位移傳感器，結(jié)合藍(lán)冰河的測(cè)量軟件算法，提供更高重復(fù)精度。

可實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量、定點(diǎn)測(cè)量、循環(huán)定點(diǎn)測(cè)量，掃描和定點(diǎn)模式任意切換。

單次/多次輪廓線、分區(qū)線、趨勢(shì)線等豐富的測(cè)量曲線實(shí)時(shí)呈現(xiàn)、多種品質(zhì)數(shù)據(jù)顯示。

基于數(shù)據(jù)庫(kù)的海量全價(jià)值數(shù)據(jù)excel格式存儲(chǔ)，歷史數(shù)據(jù)查詢和追溯，歷史曲線復(fù)顯。

專業(yè)級(jí)SPC統(tǒng)計(jì)分析，自動(dòng)生成品質(zhì)卷報(bào)，并可根據(jù)客戶需求定制。

多種過(guò)程控制解決方案，五線品質(zhì)控制，多重預(yù)警和報(bào)警，超限噴碼打標(biāo)。

支持實(shí)現(xiàn)閉環(huán)自動(dòng)控制，可對(duì)戶MES系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)多機(jī)架同點(diǎn)對(duì)位跟蹤測(cè)量。

自主研發(fā)數(shù)據(jù)采集卡與控制板卡，實(shí)時(shí)通信系統(tǒng)與CANOPEN總線通信傳輸，保證高速測(cè)量響應(yīng)。

更強(qiáng)易用性和友好人機(jī)界面，一鍵智能操作，易學(xué)易用

性能指標(biāo)