當探傷面窄小或表面曲率半徑較小時，用A1型試片不能貼在工件表面的時候，請使用C1型標準試片，6片/套。

概述：

我公司生產(chǎn)的C型標準試片，是一種消耗的調(diào)整磁粉探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾何形狀復(fù)雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點。

C型標準試片相當于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當于8-10D，并可用作鑒定探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中，可以避免誤判或漏檢。C型標準靈敏度試片，是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。

使用方法：

1、使用C1型時，沿者分割線，剪開為5x10mm的小片，使用適當?shù)碾p面膠帶，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。

2、使用連續(xù)法，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度。

3、使用C2型試片時，剪開C字為正，也可不剪開，以缺口為磁場方向，顯示痕跡，即是工件所需靈敏度。

符合標準：

  NB/T47013.4-2015

  GB/T23907