LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術（MWLI）的干涉式掃描測量系統

LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術（MWLI®）的干涉式掃描測量系統。它專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設計，例如非球面光學透鏡。

LuphoScan平臺能夠輕松進行非球面、球面、平面和自由曲面的測量。該儀器的主要特性包括高速測量、特殊表面的高靈活度測量 (例如；拐點的輪廓或平坦的尖點), 物體直徑可達420 mm。因為采用多波長干涉技術（MWLI®）傳感器技術，因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

LuphoScan系統能夠為高質量的光學表面3D形狀測量提供效益

• 對任何旋轉對稱的表面的深入分析
• 超高、可重復精度
• 可測量任何材料  - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
• 大球面的偏離
• 高速測量
• 直徑 -  20mm, 260mm, or 420mm

LuphoScan 260和LuphoScan 420測量平臺可以應用LuphoSwap的擴展功能，來對透鏡兩個表面的所有特征進行連續(xù)的測量。一個特殊的測量概念能夠將兩個表面的測量結果相關聯起來。這個概念就是在測量形狀誤差的同時，LuphoSwap能夠確定透鏡兩側表面的精確的厚度、楔形度和偏心度誤差以及旋轉定位。此外，還能夠確定透鏡底座位置。這個強大的軟件工具功能來自于LuphoSmart傳感器技術，一個的概念模式，以及額外的（跳動）基準傳感器。