Krautkramer探頭
常規(guī)應(yīng)用
這個(gè)宣傳資料列出了我們各種型號(hào)的常規(guī)這些探頭性能優(yōu)越，可靠性高，能滿足非每個(gè)探頭都有詳細(xì)的符合DIN 25450標(biāo)準(zhǔn) 探頭，這些探頭基本上能滿足所有常規(guī)檢 常嚴(yán)格的應(yīng)用要求，精度高，我們探頭的 的技術(shù)參數(shù)，技術(shù)參數(shù)都將與探頭一起寄測(cè)要求。 技術(shù)參數(shù)都能控制在允許的誤差范圍內(nèi)。這些常規(guī)探頭都能用于各種標(biāo)準(zhǔn)超聲探傷儀。
雙晶探頭
這種探頭有兩個(gè)，一個(gè)負(fù)責(zé)發(fā) 射超聲波，另一個(gè)負(fù)責(zé)接收反射回波（如圖1）。該探頭用來(lái)檢測(cè)近表面缺陷，還可測(cè)量表面或內(nèi)部腐蝕的剩余壁厚（如圖2所示）。
另外，靈活的SEB和MSEB系列探頭，小接觸面積的SEB-KF系列探頭適用于檢測(cè)接觸面積小，結(jié)構(gòu)復(fù)雜的工件檢測(cè)。
| 型號(hào) | 頻率 | 換能器尺寸 | 尺寸 | |
| | (MHz） | (mm） | Ø(mm) | 高度(mm) |
| SEB* | 1, 2, 4 | 6 x | 20 or 7 x 18 | 45 | 65 |
| MSEB* | 2, 4, | 5 | 3 x | 10 or Ø 8 (halved) | 25 | 45 |
| SEB*KF | 2, 4, | 5, 6, 10 | Ø 7 or Ø 5 (halved) | 13 | 17 |
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直探頭
通過(guò)一個(gè)超聲換能器發(fā)射超聲波和接收反 射回波（如圖3）。能夠檢測(cè)與超聲波聲束 垂直的面狀缺陷（裂紋或層疊），也能檢測(cè)縮孔，氣孔，夾雜等缺陷。B*S和MB*S系列 探頭裝有可替換的保護(hù)膜，即使在粗糙表
面上也同樣有良好的耦合效果。K*G， K*N，K*K，B*F和MB*F系列探頭具有硬質(zhì)保護(hù)膜（例如氧化鋁），該系列探頭具有 靈敏度高和脈沖窄（改善縱向分辨率） 等優(yōu)點(diǎn)，對(duì)表面光滑工件，具有的優(yōu)勢(shì)。盡管如此，若在粗糙表面工件， B*S和MB*S系列探頭的保護(hù)膜有可能被構(gòu)件的尖銳表面劃傷，應(yīng)盡量使被檢工 件表面光滑。
| 型號(hào) | 頻率 | 換能器尺寸 | 尺寸 | |
| | (MHz） | (mm） | Ø(mm) | 高度(mm) |
| B+S | 1, 2, 4, 5 | 24 | 45 | 59 |
| MB*S | 2, 4, 5 | 10 | 25 | 43 |
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| K*G | 1, 2, 4, 6 | 24 | 45 | 60 |
| K*N | 2, 4, 6, 10 | 10 | 25 | 43 |
| K*K | 2, 5, 10, 15 | 5 | 11 | 17 |
| | | | | |
| B*F | 1, 2, 4, 5 | 20 | 31 | 15 |
| MB*F | 2, 4, 5, 6, 10 | 10 | 19 | 15 |
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