高溫老化房：針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如：機(jī)算機(jī)整機(jī)，顯示器，終端機(jī)，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

高溫老化房：庫(kù)板等材料根據(jù)預(yù)算定制

巖棉庫(kù)板樣式參考 

PU發(fā)泡+玻璃纖維庫(kù)板樣式

高溫老化房：參數(shù)要求

：參照標(biāo)準(zhǔn)

• B/T 10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
• GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
• GB/T 5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
• GJB 150.3A裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)