深冷試驗(yàn)箱--產(chǎn)品用途
　　本公司的機(jī)械式壓縮機(jī)制冷方式的深冷技術(shù)，摒棄了采用液氮作為深冷的傳統(tǒng)制冷方式，突破了機(jī)械制冷方式只能做到-75℃低溫的瓶頸，開(kāi)創(chuàng)了環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域低溫水平的新篇章。
　　深冷試驗(yàn)箱適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車(chē)各種電子元?dú)饧谏罾洵h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

深冷試驗(yàn)箱--控制系統(tǒng)特點(diǎn)
　　實(shí)踐證明，該系列深冷試驗(yàn)箱具有到達(dá)溫度低，制冷效果好，控制效果好，控制精度高，性能穩(wěn)定可靠的特點(diǎn)，是用戶超低溫試驗(yàn)和進(jìn)行冷處理的產(chǎn)品。
　　目前，深冷試驗(yàn)箱有-80℃、-90℃、-100℃、-110℃、-120℃可供用戶選擇。

深冷試驗(yàn)箱--符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件　　
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件　
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備　　
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)

深冷試驗(yàn)箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）

☆上述指標(biāo)在室溫為+23℃時(shí)，溫濕度性能測(cè)試按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《JJF1101-20003》相關(guān)條款檢定。