YNK/TH系列高低溫試驗箱適用于航空航天、信息電子、儀器儀表、材料電工、電子產(chǎn)品、高等院校、科研單位等行業(yè)和領(lǐng)域的各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下檢驗其各項性能指標(biāo)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用

YNK/TH系列高低溫試驗箱適用于航空航天、信息電子、儀器儀表、材料電工、電子產(chǎn)品、高等院校、科研單位等行業(yè)和領(lǐng)域的各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下檢驗其各項性能指標(biāo)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

參照標(biāo)準(zhǔn)：
-GBT10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
-GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
-GJB150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
-GJB150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗
-GB/T2423.1-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.2-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
-GB/T2423.3-2016電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)
-GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)
-GB/T2423.9-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
-GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)等

技術(shù)參數(shù)

設(shè)備特點

新一代外觀設(shè)計，箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均做較大改進，技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運行更可信賴,維護更方便，備有好的萬向滾輪，方便在實驗室內(nèi)移動
超大觸摸屏搖表式操作,外觀更加簡潔大方，操作更加容易
真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計，飛利浦 高亮度照明，加熱無霧氣
為編程和文檔處理提供更多的接口選項，記錄量大: SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印,大倉有紙無紙記
錄等選配
可信賴性高:主要配件選配專業(yè)廠商，確保提高整機可信賴性
控制系統(tǒng)

其他