產(chǎn)品用途

本設(shè)備適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB電路板IC光通訊(如收發(fā)器transceiver高低溫測試、SFP光模塊高低溫測試等)、電子行業(yè)等進行IC特性分析、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

符合標準

1.GB/T 2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法;

2.GB/T 2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法;

3.GB/T2423.22-2012試驗N:溫度變化試驗方法

4.GJB/150.3-2009高溫試驗

5.GJB/150.4-2009低溫試驗

6.GJB/150.5-2009溫度沖擊試驗