1)GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;
2)GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
3)GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
4)GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
5)GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗 (IEC 60068-2-78:2012, IDT);
6)GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db 交變濕熱(12h+12h循環(huán))(IEC 60068-2-30:2005, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗;
9)GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗;
10)GJB/T 150.9-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第8部分 濕熱試驗。