當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測(cè)試儀器及設(shè)備>粒度/顆粒/粉末分析儀器>其它顆粒分析儀器> Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
返回產(chǎn)品中心>Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
參考價(jià) | 面議 |
- 公司名稱 廈門淳涵科技有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 廈門市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/9/26 15:22:57
- 訪問次數(shù) 40
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 物性測(cè)試儀器及設(shè)備>粒度/顆粒/粉末分析儀器>其它顆粒分析儀器> Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
返回產(chǎn)品中心>參考價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品詳情簡(jiǎn)介產(chǎn)品簡(jiǎn)介:Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15、90與173三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測(cè)量,是目前市場(chǎng)上功能大的粒度與Zeta電位分析儀。詳細(xì)說明:作為將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15、90與173三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,解決了長(zhǎng)期以來無法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度......
項(xiàng)目 | 173 | 173Plus | Omni | ZetaPALS | ||
功 能 | 粒度測(cè)量功能 | ● | ● | ● | ○ | |
分子量測(cè)量功能 | ● | ● | ● | ○ | ||
Zeta電位測(cè)量功能 | ○ | ○ | ● | ● | ||
技 術(shù) 參 數(shù) | 散射角 | 15°與173° | 15°、90°與173° | ○ | ||
粒度范圍 | 0.3nm-10μm | ○ | ||||
分子量測(cè)定范圍 | 342~2×107Dalton | ○ | ||||
相關(guān)器 | 4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道 | ○ | ||||
Zeta電位適用粒度范圍 | ○ | 1nm~100μm | ||||
Zeta電位范圍 | ○ | -500mV~500mV | ||||
電導(dǎo)率范圍 | ○ | 0-30S/m | ||||
電泳遷移率范圍 | ○ | 10-11~10-7m2/V.s | ||||
電極 | ○ | 開放式型電極 | ||||
系 統(tǒng) 參 數(shù) | 溫控范圍與精度 | -5~110℃,±0.1℃ | ||||
激光源 | 35mW光泵半導(dǎo)體激光器 | |||||
檢測(cè)器 | PMT或APD | |||||
分析軟件 | Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件 | |||||
大小及重量 | 233mm(H)×427mm(W)×481mm(D),15kg | |||||
選 件 | BI-ZTU自動(dòng)滴定儀 | 可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖 | ||||
BI-870介電常數(shù)儀 | 直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值 | |||||
BI-SV10粘度計(jì) | 用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度 |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個(gè)人信息: