GOL-30GDIC系列微分干涉相襯顯微鏡GOL-30GDIC微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察

GOL-30G DIC系列微分干涉相襯顯微鏡

     GOL-30G DIC微分干涉相襯顯微鏡適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠(yuǎn)長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點。

     微分干涉相襯顯微鏡應(yīng)用于機械、礦產(chǎn)業(yè)、精密零件，集成電路，包裝材料、LED、LCD電子半導(dǎo)體工業(yè)進行晶體、集成電路的檢驗和科學(xué)研究。是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)等研究的理想儀器。

微分干涉相襯顯微鏡特點

1、微分干涉顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，可提供的光學(xué)性能。

2、緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。

3、大行程機械移動載物平臺，適合于大試樣顯微觀察或多試樣快速檢測。

4、模塊化的功能設(shè)計，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏振觀察、微分干涉相襯觀察等功能。

5、符合人機工程學(xué)要求的理想設(shè)計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。

微分干涉相襯顯微鏡配置

選配件：