科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-59C配有超大移動范圍的載物臺，落射照明器、無限遠明暗場長距平場物鏡和大視野目鏡的配置。具有外形美觀，圖像清晰度高、操作方便等特點，同時配有暗場裝置及偏光裝置，可實現(xiàn)明暗暗場、偏光、微分干涉觀察，是一款多功能材料檢測顯微鏡。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器?？偡糯蟊稊?shù)：50X-500X
產(chǎn)品特點：
1、采用了為的無限遠校正光路設(shè)計，提供了的光學系統(tǒng)。
2、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置，拓展了功能。
3、系統(tǒng)配置了大尺寸、大范圍移動載物臺，適合大工件的檢查。
4、采用大視野目鏡和明暗場長距平場物鏡，視場平坦,成像清晰。
5、整機采用了防霉處理，保護了鏡頭，延長了儀器的使用壽命。
6、兩路光路自由切換輸出，一路用于觀察，一路連接攝像裝置。
產(chǎn)品應(yīng)用：
1、電子工業(yè)制造業(yè)對硅片、電路基板、FPD、PCB板、芯片檢驗。2、觀察材料表面的某些特性，3、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
