科研級明暗場正置金相顯微鏡XJ-59C-2采用了無限遠校正光路設計，落射照明器、無限遠明暗場長距平場物鏡和大視野目鏡的配置。具有外形美觀，圖像清晰度高、操作方便等特點，同時配有暗場裝置及偏光裝置，可實現(xiàn)明暗暗場、偏光、微分干涉（選購）觀察，是一款多功能材料檢測顯微鏡。適用于薄片試樣的金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究，或用于觀察材料表面特性，如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性等分析研究。是金屬學、礦物學、精密工程學、電子學、半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀察研究的理想儀器?？偡糯蟊稊?shù)：50X-500X
產(chǎn)品特點：
1、采用了無限遠校正光路設計，視場清晰。
2、配置了偏光、暗場裝置、可選配微分干涉裝置，拓展了功能。
3、采用無限遠半復消長距明暗場物鏡及視場高眼點大視野目鏡。
4、 所有光學部件均經(jīng)過特殊處理并鍍有特殊膜層
5、各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像。
產(chǎn)品應用：
1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
2、晶圓、PCb 板、半導體芯片、LCD 、LED 、 粒子爆破等工業(yè)檢查，
3、觀察材料表面的某些特性分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。
