奧林巴斯DSX510簡介奧林巴斯數(shù)碼顯微鏡DSX510

TALL數(shù)值孔徑—低像差物鏡
昆山奧巴儀器供應(yīng)奧林巴斯各類顯微鏡.通過比當(dāng)前的數(shù)碼顯微鏡數(shù)值孔徑更TALL、像差更小的物鏡、改進(jìn)后更均勻的照明光源，DSX510系列光學(xué)數(shù)碼顯微鏡的成像分辨率可與TALL端的光學(xué)顯微鏡媲美。奧林巴斯數(shù)碼顯微鏡DSX510的物鏡是工作距離很長的，可觀察TALL度極不平坦的樣品。

IC芯片（物鏡NA 0.4）	IC芯片（物鏡NA 0.8）
貝氏體鋼（物鏡NA 0.4）	貝氏體鋼（物鏡NA 0.8）

變焦光學(xué)系統(tǒng)可涵蓋大范圍的放大倍率
變焦光學(xué)系統(tǒng)： 一個物鏡涵蓋低倍到TALL倍
放大倍率的改變——DSX510的變焦光學(xué)系統(tǒng)可提供TALL達(dá)13X的光學(xué)變焦和30X的數(shù)碼變焦。單個物鏡即可涵蓋傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的放大范圍。

樣品的變焦放大
各種各樣的觀察方法，可自由使用
快速簡便地獲取觀察需要的圖像
工業(yè)顯微鏡觀察方法的理想之選，奧林巴斯數(shù)碼顯微鏡DSX510可提供各種各樣的觀察方法，呈現(xiàn)給用戶對TALL端的光學(xué)系統(tǒng)所期望的TALL分辨率圖像。更多詳細(xì)內(nèi)容請搜索。

BF 明場觀察—— 普遍的顯微鏡觀察方法	DF 暗場觀察—— 鑒別缺陷的適合方法。 從樣品側(cè)面照明以突出瑕疵。	MIX (BF + DF) 明場+暗場組合觀察—— 同時使用明場和暗場，將明場 觀察的簡便性和暗場觀察對缺 陷的突出效果結(jié)合在一起。	DIC 微分干涉觀察—— 檢查不平坦表面或 納米缺陷的理想之選。	PO 偏振光觀察—— 消除基板眩光的重要技術(shù)， 以精確地呈現(xiàn)樣品的表面特征。

僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可選擇觀察方法
僅需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可選擇幾乎所有的顯微觀察方法，奧林巴斯數(shù)碼顯微鏡DSX510 使選擇正確的觀察方法變得簡單。無需復(fù)雜的調(diào)整——僅需簡單的在觀察方法（明場、暗場、MIX [明場 + 暗場]、微分干涉、偏振光）之間選擇，便可呈現(xiàn)滿足精確觀測所需的TALL品質(zhì)圖像。

的圖像處理
TALL動態(tài)范圍HDR成像：
超越人眼觀察效果的TALL品質(zhì)視覺呈現(xiàn)
樣品的成像效果依據(jù)材料的性質(zhì)、表面狀況或照明方法會有所不同。DSX510的數(shù)碼圖像技術(shù)產(chǎn)生的多種觀察方法，呈現(xiàn)出超越人眼觀察效果的TALL品質(zhì)圖像。TALL動態(tài)范圍成像功能（HDR）將不同曝光度下獲取的合成影像與微分干涉（DIC）觀察法下獲得的樣品表面精細(xì)的TALL度差影像結(jié)合起來，可呈現(xiàn)更加精確的樣品表面狀況。HDR的TALL保真度影像，不僅可以顯示出紋理，還可顯示出之前發(fā)現(xiàn)不了的裂紋和缺陷，同時減少了眩光，觀察更舒適。

液晶平板上的ACF各向異性導(dǎo)電膠 （標(biāo)準(zhǔn)觀察法）

(HDR)

任何人均可在適合條件下進(jìn)行觀察
優(yōu)化圖像功能確保了任何操作者都可獲得適合的操作結(jié)果
只需簡單的選擇一幅適合的圖像即可完成操作——奧林巴斯數(shù)碼顯微鏡DSX510將會自動設(shè)置必要的參數(shù)來獲取圖像。無論是缺陷、凹凸的表面還是異物，圖像優(yōu)化功能都確保能獲得適合的影像。通過圖像優(yōu)化功能，任何人均可操作該系統(tǒng)——無論是新手，還是專家——并且還可為每位操作者進(jìn)行用戶化定制。