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- 公司名稱 全光科技(北京)有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2024/6/3 15:15:45
- 訪問次數(shù) 41
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ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺,原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊
ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀,采用的白光共聚焦技術(shù),可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品,并具有多種選項,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺,原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。
產(chǎn)品特性
采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率
測量具有非破壞性,測量速度快,精確度高
測量范圍廣,可測透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);
尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
不受樣品反射率的影響
不受環(huán)境光的影響
測量簡單,樣品無需特殊處理
Z方向,測量范圍大:為27mm
主要技術(shù)參數(shù)
掃描范圍:150mm×150mm(可選600mm*600mm)
掃描步長:0.1μm
掃描速度:20mm/s
Z方向測量范圍:27mm
方向測量分辨率:2nm
產(chǎn)品應(yīng)用
MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料,光學(xué)元件、陶瓷和材料的研發(fā)。
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