的尼康光學(xué)系統(tǒng)
尼康的高精度CFI60無限遠(yuǎn)光學(xué)器件，針對各種復(fù)雜的觀察方法而設(shè)計，因其的光學(xué)性能和堅固的可靠性而受到研究人員的高度評價。
切趾相差
尼康的切趾相差物鏡和可選擇的幅度濾光片可顯著提高對比度并減少光暈偽影，從而提供詳細(xì)的高清圖像。
外部相差 Ti2-E
電動外部相差系統(tǒng)使用戶能夠通過繞過使用相差物鏡的需要，將相差與落射熒光成像相結(jié)合，而不會影響熒光透射。例如，非常高數(shù)值孔徑的液浸物鏡可用于相差成像。使用這種外部相差系統(tǒng)，用戶可以輕松地將相差與其他成像模式相結(jié)合，包括如TIRF和激光光鑷應(yīng)用的弱熒光成像。
DIC (微分干涉相差)
尼康備受推崇的DIC光學(xué)元件可在整個放大倍率范圍內(nèi)提供均勻清晰細(xì)致的圖像，并具有高分辨力和對比度。DIC棱鏡針對每個物鏡單獨定制，為每個樣品提供質(zhì)量的DIC圖像。
NAMC（尼康高級調(diào)制反差）
這是一種塑料兼容的高對比度成像技術(shù)，適用于諸如卵母細(xì)胞的未染色的透明樣品。NAMC提供具有陰影投射外觀的偽三維圖像。用戶可以容易地為每個樣品調(diào)整對比度的方向。
自動校正環(huán) Ti2-E
樣品厚度、蓋玻璃厚度、樣品中的折射率分布和溫度的變化可導(dǎo)致球差和圖像扭曲。質(zhì)量的物鏡通常配備校正環(huán)以補償這些變化。并且校正環(huán)的精確調(diào)節(jié)對于實現(xiàn)高分辨力、高對比度圖像是至關(guān)重要的。這款新型自動校正環(huán)采用諧波驅(qū)動和自動校正算法，使用戶可以輕松實現(xiàn)精確的校正環(huán)調(diào)整，以每次都能實現(xiàn)物鏡的性能。
落射熒光
Lambda系列物鏡采用尼康專有的納米晶體涂層技術(shù)，非常適合要求高、低信號、多通道熒光成像，需要在寬波長范圍內(nèi)進(jìn)行高透射和像差校正。結(jié)合提供改進(jìn)熒光檢測和雜散光對策（如噪聲終結(jié)器）的新型熒光過濾立方體，Lambda系列物鏡證明了它們在弱信號觀測（如單分子成像）甚至基于發(fā)光的應(yīng)用中的能力。
Volume Contrast New【Ti2-E】
Volume Contrast利用一系列在不同Z軸深度捕獲的無標(biāo)記明場圖像來重構(gòu)相位分布圖像。
Volume Contrast圖像便于細(xì)胞的識別，為自動計數(shù)和面積分析提供方便。由于該方法利用了明場成像，因此VC能夠?qū)?xì)胞進(jìn)行實時無損的分析，適用于各種應(yīng)用。（僅適用于TI2-E）。
Volume Contrast特征
從無標(biāo)記樣品中準(zhǔn)確識別細(xì)胞，用于自動細(xì)胞計數(shù)和面積測量。
消除半月效應(yīng)對細(xì)胞鑒定的影響
由于半月效應(yīng)，相差圖像在培養(yǎng)孔邊緣受到不良影響。VC避免了這一影響，使培養(yǎng)孔邊緣的細(xì)胞能夠被清晰地識別，從而增加了細(xì)胞計數(shù)精度并改進(jìn)了統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
對焦
即使是成像環(huán)境中溫度和振動的最輕微變化也會極大地影響對焦穩(wěn)定性。Ti2使用靜態(tài)和動態(tài)測量消除了焦點漂移，以便在長時間的實驗中實現(xiàn)納米級和微觀世界的忠實可視化。
為實現(xiàn)超高穩(wěn)定性（Ti2-E）而重新進(jìn)行的機械設(shè)計 Ti2-E
為了提高對焦穩(wěn)定性，Z軸驅(qū)動和PFS自動對焦機構(gòu)都經(jīng)過了全面的重新設(shè)計。
新的Z軸調(diào)焦機構(gòu)較小，位于物鏡轉(zhuǎn)盤附近，可限度地減少振動。即使采用擴展（雙層光路）配置，它仍然保留在物鏡轉(zhuǎn)盤附近，確保所有應(yīng)用的穩(wěn)定性。
聚焦系統(tǒng)（PFS）的探測器部分已從物鏡轉(zhuǎn)盤上拆下，以減少物鏡轉(zhuǎn)盤上的機械負(fù)載。這種新設(shè)計還可以限度地減少熱傳遞，從而有助于實現(xiàn)更穩(wěn)定的成像環(huán)境。為此，Z軸驅(qū)動電機的功耗也降低了。這些機械重新設(shè)計相結(jié)合，形成了超穩(wěn)定的成像平臺，非常適合單分子成像和超分辨率應(yīng)用。
使用PFS進(jìn)行實時焦點校正：簡單 Ti2-E
對焦系統(tǒng)（PFS）可自動校正由溫度變化和機械振動引起的焦點漂移，這可能是由多種因素引起的，包括向樣品中添加試劑和多位置成像。
PFS通過實時檢測和跟蹤蓋玻片表面的位置來保持焦點。的光學(xué)偏移技術(shù)使用戶可以輕松地將焦點保持在偏離蓋玻片表面的所需位置。PFS通過內(nèi)置線性編碼器和高速反饋機制自動連續(xù)保持對焦，即使在長期復(fù)雜的成像任務(wù)中也能提供高度可靠的圖像。
PFS兼容廣泛的應(yīng)用，從涉及塑料培養(yǎng)皿的常規(guī)實驗到單分子成像和多光子成像。它還兼容從紫外到紅外的各種波長，這意味著它可用于多光子和光鑷應(yīng)用。
物鏡自動補水裝置 Ti2-E
使用新的物鏡自動補水裝置可以提高使用PFS和水鏡的長期成像性能。物鏡自動補水裝置自動將適量純水施加于物鏡的，防止實驗過程中浸水變干和溢出。它與所有類型的水鏡兼容，有助于在長時間內(nèi)穩(wěn)定地提供高分辨率、高對比度和像差校正的延時圖像。
輔助向?qū)?/strong>
不再需要用戶記憶復(fù)雜的顯微鏡對準(zhǔn)和操作程序。Ti2集成了來自傳感器的數(shù)據(jù)，可指導(dǎo)您完成這些步驟，減少用戶的操作錯誤，并使研究人員能夠?qū)Ｗ⒂谒麄兊臄?shù)據(jù)。
連續(xù)顯示 顯微鏡狀態(tài) Ti2-E/A
一系列內(nèi)置傳感器可檢測和傳遞顯微鏡中各種組件的狀態(tài)信息。使用計算機獲取圖像時，所有狀態(tài)信息都記錄在元數(shù)據(jù)中，因此您可以輕松調(diào)用采集條件和/或檢查配置錯誤。
此外，內(nèi)置的相機允許用戶查看后焦平面，便于校準(zhǔn)相差環(huán)和DIC的消光十字。它還為TIRF等應(yīng)用提供了激光安全對準(zhǔn)方法。
顯微鏡狀態(tài)可在平板中查看，也可通過顯微鏡前面的指示燈顯示，可在暗房中輕松確認(rèn)設(shè)備狀態(tài)。
操作步驟向?qū)?Ti2-E/A
Ti2的輔助向?qū)Чδ転轱@微鏡操作提供了交互式逐步指導(dǎo)?？梢栽谄桨咫娔X或PC上查看輔助指南，并集成來自內(nèi)置傳感器和內(nèi)置攝像頭的實時數(shù)據(jù)。輔助向?qū)е荚趲椭脩敉瓿蓪嶒炘O(shè)置和故障排除的校準(zhǔn)程序。
自動檢測錯誤 Ti2-E/A
檢查模式支持用戶在平板電腦或PC上輕松確認(rèn)所有正確的顯微鏡組件是否適合他們選擇的觀察方法。當(dāng)未實現(xiàn)所需的觀察方法時，此功能消除了通常故障排除所需的時間和精力。當(dāng)涉及多個用戶時，該功能特別有利，因為每個用戶都有可能對顯微鏡設(shè)置進(jìn)行意外的改變。自定義檢查程序也可以預(yù)先編程。
直觀的操作
Ti2經(jīng)過全面的重新設(shè)計，從整體設(shè)計到每個按鈕和開關(guān)的選擇和放置，為用戶帶來體驗。即使在黑暗中，控制也很容易使用，在黑暗中進(jìn)行大多數(shù)成像實驗。Ti2提供直觀、輕松的用戶界面，因此研究人員可以專注于數(shù)據(jù)，而不是顯微鏡控制。
精心設(shè)計的顯微鏡控制布局 Ti2-E Ti2-A
所有按鈕和開關(guān)的位置都基于它們控制的照明類型?？刂仆干溆^察的按鈕位于顯微鏡的左側(cè)，控制落射熒光觀察的按鈕位于右側(cè)?？刂瞥Ｒ姴僮鞯陌粹o位于前面板上。這種分區(qū)的使用提供了易于記憶的布局，這是在暗室中操作顯微鏡時的理想特征。
