操作條件下進行的微觀結構和材料缺陷分析從三種AxioLab.A1主機架中為您的應用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的AxioLab.A1

操作條件下進行的微觀結構和材料缺陷分析

從三種 Axio Lab.A1 主機架中為您的應用選擇合適的配置：反射光照明和/或透射光照明；用于無畸變和錐光觀察的 Axio Lab.A1。

在金相學中，Axio Lab.A1應用于高樣品的檢測。在結構檢測時，可以分析金屬的微觀結構和晶粒大小或者捕獲導致材料缺陷的相關機理信息，例如：疲勞度、腐蝕、應力裂紋和裂縫。 使用130至1200萬像素的數(shù)碼相機記錄檢測結果。

偏光觀察方式可以在法醫(yī)檢測樣品時用于表征頭發(fā)、泥土和纖維微觀的結構。使用明場、熒光和偏光顯微技術分析噴漆和油漆碎片。如果您是一名地質(zhì)學家，則可以使用該儀器檢測巖石切面和礦物樣品，例如：用于石油開采。在環(huán)境保護應用中，它還能夠用于辨識諸如石棉纖維材料的微觀結構。

多用途偏光檢測

Axio Lab.A1 是一款多用途偏光顯微鏡，可用于地質(zhì)學、礦物學、化石燃料資源的勘探等應用。

它能夠解決折射率、分裂、雙折射、消光角、光程差及光軸數(shù)量和角度的相關問題。

可以使用測量補償器擴展其應用范圍。選擇固定式和旋轉(zhuǎn)式補償器來拍攝大小光程差，以及測定纖維狀物質(zhì)的光學特性。360° 旋轉(zhuǎn)式載物臺則用于測量分裂和消光角。

適用于錐光觀察的主機架展現(xiàn)了檢偏器和 Bertrａnd 透鏡的結合。當 Bertrａnd 透鏡轉(zhuǎn)入光路時，這種邏輯機械耦合可以保證檢偏器轉(zhuǎn)至操作位置。