【產(chǎn)品概述】ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化，拓展了掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

ZEM15 原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、1000N原位拉伸樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。

原位拉伸臺(tái)參數(shù)

載荷范圍：0-1000N

位移分辨率：20nm

加熱模塊：可選

加載功能：拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲

電鏡主機(jī)特色

僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，無(wú)須對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟；

亮度/對(duì)比度一鍵自適應(yīng)，自動(dòng)/手動(dòng)聚焦;

抽真空時(shí)間小于90秒；

標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航，搭配多樣品臺(tái)，實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品；

信號(hào)采集帶寬10M，掃描速度快；

視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，操作流暢，無(wú)卡頓；

四分割背散射電子探測(cè)器（多種成像模式）、二次電子探測(cè)器；

BSE+SE 模式（任意比列混合）、集成EDS元素分析功能；

國(guó)內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù)；

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示；

安徽澤攸科技有限公司擁有一支精通機(jī)械、光學(xué)、超高真空、電子技術(shù)、微納加工技術(shù)、軟件開發(fā)技術(shù)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，致力于突破電子顯微鏡制造這一"卡脖子"技術(shù)難題，自主研發(fā)的ZEM15 原位拉伸-掃描電鏡 結(jié)合了電鏡整機(jī)及原位樣品臺(tái)技術(shù)，支持個(gè)性化定制，可選原位加熱/冷凍樣品臺(tái)、原位力學(xué)、原位電學(xué)樣品臺(tái)等。澤攸科技將持續(xù)不斷地優(yōu)化產(chǎn)品型號(hào)及配置，期待與您的合作。