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手持式X熒光光譜儀

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手持式XRF光譜儀-X-MET8000系列X-MET8000系列手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀具備進行快速合號識別并對各種材料(固體和金屬粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)進行精確化學分析的性能

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手持式 XRF 光譜儀 - X-MET8000 系列

X-MET8000系列手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀具備進行快速合號識別并對各種材料(固體和金屬粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)進行精確化學分析的性能。X-MET手持式XRF分析儀實用且堅固,易于使用,可提供值得信任的結(jié)果。

我們提供一系列手持XRF光譜儀型號,以滿足不同應(yīng)用的所有分析需求和預(yù)算。我們的手持式XRF光譜儀系列目前提供1年保修*和新服務(wù)以及校準計劃,可幫助貴司節(jié)省資金。



為什么選擇 X-MET 光譜儀

性能

X-MET提供的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測限度低,且可每天提供準確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進行分析,從而測試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準確,則使用實證校準。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。

符合人體工學

X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時間使用,而疲勞度。

堅固耐用而擁有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過MIL-STD-810G耐用標準測試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費用。


高級數(shù)據(jù)管理

靈活:可將多達100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報告輸出到U盤或個人計算機,或自動將X-MET數(shù)據(jù)存儲在LiveData云端。

應(yīng)用


X-MET8000
Smart

X-MET8000
Optimum

X-MET8000
Expert
廢金屬回收 ? ? ?
材料可靠性鑒定(PMI)檢查
 ? ?
制造與 PMI QA/QC ? ? ?
貴金屬 ? ? ?

監(jiān)管機構(gòu)合規(guī)篩查

(消費品、包裝、原材料…)

 ?

 ?
X-MET8000
Expert CG

環(huán)境土壤篩查
 ?
X-MET8000
Optimum Geo
 ?
X-MET8000
Expert Geo
礦石和礦物
 ?
X-MET8000
Optimum Geo
?
X-MET8000
Expert Geo
金屬鍍層厚度測量???
X-MET8000
Expert 
/ Expert CG
科技考古
??
X-MET8000
Expert 
/ Expert CG 
/ Expert Geo

為預(yù)防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果,在不同生產(chǎn)階段中進行質(zhì)量控制和質(zhì)量保證至關(guān)重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF),您可以在進料送達時進行快速檢查,并且確認從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC

為何選擇X-MET8000 系列手持式合金分析儀來完成此任務(wù)?

X-MET提供:

  • 為快速和可靠金屬分析提供較優(yōu)性能

  • 為準確的合號鑒定提供多種和可定制的合號數(shù)據(jù)庫

  • 堅固耐用而擁有成本低

  • 使用方便:用戶幾乎不需培訓

  • 多樣化數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲到分析儀、創(chuàng)建測試報告或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù),隨時隨地管理您的數(shù)據(jù)。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定

材料可靠性鑒定(PMI)計劃使工廠操作員和維修員可測試安裝前后的關(guān)鍵流程組件,以確保資產(chǎn)完整性,并預(yù)防潛在的災(zāi)難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF),您可以在幾秒內(nèi)在現(xiàn)場上確認合金的牌號及其元素化學成分。您無需再依賴供應(yīng)商的認證。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進行PMI檢查?

  • 為快速和可靠金屬分析提供較優(yōu)性能

  • 為準確的合金鑒定提供多種和可定制的等級數(shù)據(jù)庫。

  • 牢固耐用而擁有成本低

  • 使用方便:幾乎不需用戶培訓

  • 以完成任務(wù)為主的設(shè)計:便于使用的較優(yōu)人體工學,優(yōu)化的設(shè)計,以便檢測難以到達位置的材料(如彎曲處和角落)

  • 多樣化數(shù)據(jù)管理:可將結(jié)果保存在分析儀上、將定制報告輸出到U盤或個人計算機,或使用應(yīng)用程序或云服務(wù)存儲并分享您的數(shù)據(jù)。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收

每年,超過4億噸廢金屬被處理。通過檢測對廢金屬進行分類,從將混合廢料分類為低價值和高價值材料,到確定進入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量,金屬回收過程中的各個階段都可增加價值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場,為金屬回收過程中的每個階段增添價值。

為什么選擇X-MET8000?

  • 通過精確的合號鑒定和元素化學分析(包括分析雜質(zhì)和懲罰元素),較大限度地提高生產(chǎn)力和利潤

  • 檢測合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料

  • 易于使用:在幾秒后即可開始測試;幾乎無需用戶培訓

  • 堅固耐用:IP54評級(密封防塵和防濺水),并通過MIL-STD 810G檢測,堅固耐用

  • 擁有成本低:我們的可選防扎窗口在測量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時保護分析儀的檢測器,避免昂貴的維修

  • 強大的數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲在分析儀、U盤,或用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)與同事和買家實時分享結(jié)果

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個階段——從早期探索到現(xiàn)場關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場的地球化學分析。這極大減少了對實驗室分析的需求,加快了決策過程并降低了檢測成本。 

為什么選擇X-MET8000 Geo?

  • 的性能:我們的革命性BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器提供相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度,提供測量探路儀或懲罰元件所需的低限探測范圍。

  • 快速分析:在幾秒鐘內(nèi)測量多達40個元素;快速完成測試程序。

  • 因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時間縮至最短。

  • 出色的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可信賴結(jié)果。

  • 易于使用:幾乎不需要用戶培訓。

  • 內(nèi)置GPS:將地理坐標與測試結(jié)果相結(jié)合,實現(xiàn)較好的站點映射。

  • 強大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時隨地通過藍牙打印機打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時隨地實時管理結(jié)果。

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測

土壤污染逐漸由工業(yè)流程(如采礦和制造)、農(nóng)業(yè)(使用肥料和殺蟲劑)或廢物處理(如錯誤地進行垃圾填埋)等人類活動造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對人體健康有害,許多國家已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案,以識別污染區(qū)域并管理修復(fù)過程(補救)。

例如,作為美國廢物管理計劃的一部分,美國引入了6200標準,通過現(xiàn)場便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法,確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。

操作者可以使用HHXRF,快速在現(xiàn)場篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠極大減少送到場外實驗室進行分析的樣本數(shù)量,并降低了分析成本和完成測試程序所需的時間。通過孤立問題區(qū)域和在現(xiàn)場確定補救邊界,操作者可較大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000 Expert Geo?

  • 的性能:利用我們革命性的BOOST™技術(shù)和大面積硅漂移探測器,滿足當今和未來的檢測要求。它們提供了相當于其他HHXRF型號10倍的靈敏度,為測量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素(例如美國EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素)提供所需的低檢測限制

  • 快速分析:快速完成調(diào)查

  • 杰出的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可以信賴結(jié)果。

  • 因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時間縮至最短

  • 易于使用:幾乎不需要用戶培訓

  • 嵌入式GPS:將地理坐標與測試結(jié)果相結(jié)合,實現(xiàn)較好的站點映射。

  • 強大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時隨地通過藍牙打印機打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時隨地實時管理結(jié)果

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測

無論您是電子設(shè)備、兒童產(chǎn)品和其他消費品的制造商、零售商或進口商,您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令(例如2008年CPSIA - 消費者產(chǎn)品安全改進法、包裝指令,WEEE - 電子電氣設(shè)備廢棄物、CA 65號等)的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定,以提高產(chǎn)品的安全性,并通過控制產(chǎn)品的“上游”來源和處理技術(shù),減少環(huán)境污染物。這一立法影響到各個行業(yè),包括原材料供應(yīng)商,組件和成品制造商和零售商。

通過X射線熒光(XRF)進行合規(guī)性篩查,提供了被測組件元素化學成分的信息。因其速度快且無損,因此被廣泛使用,且收到標準檢測程序(如IEC 62321方法)的支持。

為什么選擇X-MET8000 Expert CG?

  • 便攜:小巧輕便,X-MET可被帶到需要分析的地方(例如進貨檢驗、倉庫、從工廠到工廠)

  • 快速而準確地篩選各種材料(例如聚合物、合金)

  • 快速:當場做出接受/拒絕決

  • 易于使用:幾乎不需要用戶培訓

  • 可選的小光斑準直器(直徑3毫米):通過將其與周圍材料隔離,精確檢測小特征

  • 集成攝像頭:清楚看到您檢測的下面

  • 強大的數(shù)據(jù)管理:將結(jié)果存儲在分析儀上、將報告導出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)實時管理您的數(shù)據(jù)

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測厚

金屬涂層在許多行業(yè)中被使用,并被用于裝飾用途(如鏡面拋光、金色),以增強耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為確保所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能,且不會因涂層過厚而浪費材料,電鍍公司需控制其工藝,并檢查最終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認可的分析技術(shù)。手持式XRF提供全面的多功能性:您可以將分析儀帶到需要測試的地方。

為什么選擇X-MET8000?

  • 操作簡單:X-MET擁有“對準—拍攝”的直觀用戶界面;幾乎不需要用戶培訓

  • 快速、非破壞性的分析:快速制定流程變更決定;被檢零件無刮痕或其他損壞;不浪費

  • 多功能:分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

  • 檢測笨重和大型項目的理想之選

  • 堅固耐用:IP54評級(密封防塵和防濺水),通過MIL-STD 810G檢測,堅固耐用,X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設(shè)計

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復(fù)過程。這是一種非侵入式的技術(shù),可以在幾秒鐘內(nèi)識別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金,無需采樣或準備測試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處,例如檢測釉中的特定顏料,識別僅在特定時期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成,確定物體的哪一部分被修補,并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。

為什么選擇X-MET8000?

  • 的性能:快速分析和低檢測限制,可靠識別微量元素

  • 多用途:對各種材料進行定性和定量分析;使用X-MET的標準校準,或根據(jù)您的具體要求進行創(chuàng)建

  • 集成攝像頭:將X-MET精確定位在要檢測的物體上

  • 可選的小光斑準直器(直徑3毫米):將小的特征與周圍的材料分隔開,以獲得針點分析精度

  • 多種輻射安全配件

手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測

手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀通常被用于檢測珠寶和其他貴金屬物品(如硬幣、銀器),以檢驗真?zhèn)尾⒋_定其價值。貴金屬(如金(Au)和鉑(Pt))的高價格意味著,成分的微小差別會產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點:快速、無損(對被測物品無劃痕或損壞、不會造成材料損失),并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000?

  • 快速準確:高分析吞吐量,使生產(chǎn)力和盈利能力較

  • 多用途:分析有價金屬、雜質(zhì)和有毒元素(如鉛和鎘),以確定可能有害的物品

  • 便攜:X-MET8000小巧輕便(含電池重量5工具),可隨時隨地被運輸和使用。燈架可被放入分析儀的運輸箱內(nèi)

  • 易于使用:直觀的用戶界面;幾乎不需要用戶培訓

  • 可選的集成攝像頭和小光點準直器:了解您正在檢測的內(nèi)容

比較型號

X-MET8000 Smart

  • X射線管:40kV

  • 濾光片:單一

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 極限樣本溫度:400oC

  • 符合 IP54 等級

  • Thick Kapton®窗口:保護以預(yù)防探測器的窗戶損壞

  • 校準:基本參數(shù)法(FP)

  • 內(nèi)置攝像頭 (可選)


X-MET8000 Optimum

  • X射線管:40kV or 50kV

  • 濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 極限樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

  • 符合 IP54 等級

  • 可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護

  • 校準:基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)

  • 內(nèi)置攝像頭(可選)

  • 小光班準直器(可選)

  • 針對所有元素(從鎂到鈾)進行優(yōu)先分析的六位濾光片


X-MET8000 Expert

  • X射線管:50kV

  • 濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

  • 檢測器:大面積 SDD

  • 極限樣本溫度:100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC(可選)

  • 符合 IP54 等級

  • 可選窗口防護罩:預(yù)防檢測器的窗口損壞進行保護

  • 校準方法:自動跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗系數(shù)法(可進行追溯)

  • 內(nèi)置攝像頭

  • 小光班準直器 (可選) 

  • 針對所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片



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