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快速、準確地分析納米級鍍層FT160臺式XRF分析儀旨在測量當今PCB、半導體和微連接器上的微小部件
快速、準確地分析納米級鍍層
FT160 臺式 XRF 分析儀旨在測量當今 PCB、半導體和微連接器上的微小部件。準確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價高昂的返工或元件報廢。
FT160 的多毛細管光學元件可以測量小于 50 μm 的特征上的納米級鍍層，的檢測器技術(shù)可為您提供高精度，同時保持較短的測量時間。其他功能，例如大樣品臺、寬樣品艙門、高清樣品攝像頭和堅固的觀察窗，可以輕松裝載不同尺寸的物品并在大型基板上找到感興趣的區(qū)域。該分析儀易于使用，與您的 QA / QC 流程無縫集成，在問題危機發(fā)生前提醒您。
產(chǎn)品亮點
FT160 的光學和檢測器技術(shù)專為微光斑和超薄鍍層分析而設(shè)計，針對最小的特征進行了優(yōu)化。
用于從安全距離查看分析的大觀察窗
測量方法符合 ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987 標準
IPC-4552B、IPC-4553A、IPC-4554 和 IPC-4556 一致性鍍層檢測
用于快速樣品設(shè)置的自動特征定位
為您的應(yīng)用優(yōu)化的分析儀配置選擇
在小于 50 μm 的特征上測量納米級鍍層
將傳統(tǒng)儀器的分析通量提高一倍
可容納各種形狀的大型樣品
專為長期生產(chǎn)使用的耐用設(shè)計
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| FT160 | FT160L | FT160S |
| 元素范圍 | Al – U | Al – U | Al – U |
| 探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管陽極 | W 或 Mo | W 或 Mo | W 或 Mo |
| 光圈 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 | 多毛細管聚焦 |
| 孔徑大小 | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） | 30 μm @ 90% 強度（Mo tube） |
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| 35 μm @ 90% 強度（W tube） |
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| XY軸樣品臺行程 | 400 x 300 mm | 300 x 300 mm | 300 x 260 mm |
| 樣品尺寸 | 400 x 300 x 100 mm | 600 x 600 x 20 mm | 300 x 245 x 80 mm |
| 樣品聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 | 聚焦激光和自動聚焦 |
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