JT-2000比表面積及孔隙率分析儀
只展示該款型號(hào)部分參數(shù)，更多關(guān)于JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀咨詢客
JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀 型號(hào):JT-2000P1/P2/P4/P6/P8/P12
請(qǐng)根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的型號(hào)，型號(hào)是根據(jù)分析站數(shù)量、脫氣站數(shù)量來區(qū)別。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
JT-2000系列比表面及孔徑分析儀是一款應(yīng)用于介孔、大孔納米材料的單/多分析站*自動(dòng)物理吸附分析儀；對(duì)于微孔樣品也能做簡(jiǎn)單分析。
JT-2000系列比表面積及孔徑分析儀采用一體化設(shè)計(jì)，即脫氣模塊集成于儀器主機(jī)上，為實(shí)驗(yàn)室減少空間；同時(shí)其脫氣模塊和分析模塊又相互獨(dú)立，具有獨(dú)立的氣路系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和真空系統(tǒng)，可以同時(shí)運(yùn)行，互不影響，提高質(zhì)量控制分析的檢測(cè)速度；每個(gè)分析口配備獨(dú)立壓力傳感器，獨(dú)立的飽和蒸氣壓探測(cè)系統(tǒng)，在分析過程中實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)飽和壓力，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
比表面及孔徑分析儀技術(shù)參數(shù)
1.分析方法：靜態(tài)容量法
2.測(cè)試數(shù)據(jù)：比表面積≥0.0001m2/g，孔徑分析0.35nm-500nm
3.分析精度：重復(fù)性±1%（≤1m2/g的樣品：±1.5%）
4.分析站：1個(gè)樣品分析口，1個(gè)P0實(shí)時(shí)測(cè)試位(分析站和脫氣站數(shù)量可根據(jù)用戶自行選擇 1、2、3、4、6、8)
5.杜瓦瓶：3.5L大容量杜瓦瓶（可定制4L，用戶自行選擇）
6.吸附氣體：各種惰性氣體等
7.樣品脫氣站：單站式樣品制備站，擁有獨(dú)立控溫系統(tǒng)及真空系統(tǒng)，溫度上限400℃，配置獨(dú)立機(jī)械泵，脫氣站可與分析站同時(shí)工作，脫氣時(shí)間和溫度可在主機(jī)界面設(shè)置和更改
8.分析溫度：除常用低溫氮吸附外，還可選配等溫夾套，進(jìn)行0℃-60℃的氣體等溫吸附測(cè)試
9.硬件系統(tǒng)控制：
(1) 壓力檢測(cè)系統(tǒng)：分析口配置獨(dú)立進(jìn)口壓力傳感器,軟件端可實(shí)時(shí)查看各位置壓力值，飽和蒸汽壓測(cè)試位配置獨(dú)立的壓力傳感器，對(duì)飽和蒸氣壓進(jìn)行實(shí)時(shí)采集
(2) 氣路控制系統(tǒng)：應(yīng)用真空抽氣動(dòng)態(tài)調(diào)速技術(shù)（I-PID）及集裝式氣路
(3) 分壓范圍：擁有獨(dú)立的P0分析口，P/P0 4×10－7－0.995，Po分析口配有獨(dú)立的壓力傳感器，以確保飽和蒸氣壓的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集
(4) 真空系統(tǒng): 配置雙級(jí)旋片機(jī)械泵，極限真空為4×10－2Pa
(5) 液位控制系統(tǒng)：溫差動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)技術(shù)彌補(bǔ)傳統(tǒng)液位傳感器技術(shù)定位誤差，可用于不同溫度的冷卻劑，使系統(tǒng)保持死體積小
(6) 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)：24位模數(shù)轉(zhuǎn)換系統(tǒng)，擁有儀器意外斷電數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能
10.數(shù)據(jù)處理：BET比表面積/吸附及脫附等溫線/BJH孔體積分析/孔面積分析/總孔容積/總孔面積/ Langmuir法比表面積分析/T-plot內(nèi)外表面積及微孔體積/DR微孔面積及微孔體積/HK微孔分布/MP微孔分布等
11.其它：主機(jī)長(zhǎng)550mm，寬550mm，高850mm；功率800W；工作電壓220V
