電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備主要用于檢測材料在各種環(huán)境下性能反應(yīng)的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐濕、耐干、等性能反應(yīng)。適合電子、電工、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛配件、塑膠制品、金屬、光電、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等行業(yè)產(chǎn)品及半成品檢測質(zhì)量之用。
電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備技術(shù)參數(shù):
1.標(biāo)準(zhǔn)型號和尺寸(也可按客戶要求生產(chǎn))(單位:mm):
型號 LQ-GD-80 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400
型號 LQ-GD-150 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500
型號 LQ-GD-225 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600
型號 LQ-GD-408 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800
型號 LQ-GD-800 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800
型號 LQ-GD-1000內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000
2.溫度范圍:0℃/-20℃/-40℃/70℃~+150℃(風(fēng)冷式);
3.溫度精度:0.01℃;
4.-溫度波動度:±0.1℃;
5.溫度均勻度:±1℃;
6.升溫時間:平均約3℃/min,(非線性控制、空載)可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制;
7.降溫時間:平均約1℃/min,(非線性控制、空載)可做快速(QUICK)或斜率(SLOP)控制;
8.噪音:≤75db;
性能指標(biāo)符合
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)