144nm高分辨2D校準標樣（for AFM、STM、Auger、FIB、SEM）

硅片大?。?span lang="EN-US">4*3*0.5mm，圖案由鋁金屬制的（高度大約90nm，寬75nm，此參數(shù)無校準，注意，其圖案布滿硅片），2D全息陣列，間距144nm，表層噴鍍鎢膜，精確度±1nm。

    提供的產品有兩種：Model 150-2D和Model 150-2DUTC，其中的Model 150-2D校準標樣, 帶有制造商的認證, 不可溯源；Model 150-2DUTC校準標樣, 認證, 可溯源, 提供證書（PTB,a German counterpart of NIST）。

我們*Model 150-2D，其的特性使應用非常方便，標樣結實耐用，可以在接觸模式掃描，提供快速校準和測量：

l  2D模式，X軸和Y軸同時校準

l  即使探針鈍化也不影響像對比度

l  接觸掃描可以得到高對比度像

l  整片布滿式節(jié)省尋找掃描區(qū)域的時間

l  不僅僅高倍率應用，中等倍數(shù)5 kX時，單個圓體仍可清楚分辨

AFM Tapping Mode Scan

SEM Medium Magnification

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