一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
寬廣的溫度范圍，從 -100℃ 到 500℃
無須更換檢測(cè)器或爐體， LFA467 HyperFlash在同一臺(tái)儀器上可實(shí)現(xiàn) -100℃ 到 500℃ 的寬廣溫度范圍。加上種類十分豐富的可選配件，開創(chuàng)了熱物性測(cè)量的新天地。
進(jìn)樣器附有 16 個(gè)樣品位，樣品容納量為原來的 4 倍
LFA 467 HyperFlash 的一大優(yōu)勢(shì)是可以在整個(gè)溫度范圍內(nèi)連續(xù)測(cè)量 16 個(gè)樣品，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。液氮補(bǔ)給系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)檢測(cè)器與爐體的自動(dòng)補(bǔ)充液氮，保證儀器全天候不間斷測(cè)量。
ZoomOptics 得到的測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確，減少測(cè)量誤差
技術(shù)的 ZoomOptics 優(yōu)化了檢測(cè)器的檢測(cè)范圍，從而消除了孔徑光闌的影響。顯著增加了測(cè)量結(jié)果的精度。
*的采樣頻率（2MHz），特別適合于薄膜樣品
薄膜樣品及高導(dǎo)熱材料需要快速的數(shù)據(jù)采集速率，來精確地記錄樣品上表面的升溫過程。LFA 467 HyperFlash 可以提供 2MHz 的數(shù)據(jù)采集速率，這是 LFA 系統(tǒng)*的。
二、技術(shù)參數(shù)：
● 溫度范圍：-100°C ... 500°C，單一爐體
● 非接觸式測(cè)量，IR 檢測(cè)器檢測(cè)樣品上表面升溫過程
● 數(shù)據(jù)采集速率：高達(dá) 2MHz（包括半升溫信號(hào)檢測(cè)，及 pulse mapping 技術(shù)）-- 對(duì)于高導(dǎo)熱及薄膜樣品，采樣時(shí)間（約為半升溫時(shí)間 10 倍）可低至 1ms，樣品厚度可至 0.01 mm 以下（取決于具體的導(dǎo)熱系數(shù)）
● 熱擴(kuò)散系數(shù)測(cè)量范圍：0.01 mm2/s ... 2000 mm2/s
● 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量范圍：< 0.1 W/(mK) ... 4000 W/(mK)
● 樣品尺寸：
- 直徑 6 mm ... 25.4 mm（包括方形樣品）
- 厚度 0.01 mm ... 6 mm（樣品的厚度要求取決于不同樣品的導(dǎo)熱性能）
● 16 個(gè)樣品位的自動(dòng)進(jìn)樣器
● 20 多種支架類型
● 豐富的測(cè)量模式，適應(yīng)各種類型的樣品。如各向異性材料，多層模式分析，薄膜，纖維，液體，膏狀物，粉末，熔融金屬，壓力下的測(cè)試，等等。
● Zoom Optics 優(yōu)化檢測(cè)器的檢測(cè)范圍（技術(shù)）
● 保護(hù)的 pulse mapping 技術(shù)（US 7038209, US , DE – approximation of the pulse），用于脈沖寬度修正，可以提高比熱值的測(cè)量精度
● 氣氛：惰性、氧化性、靜態(tài)/動(dòng)態(tài)、負(fù)壓
● 遵從如下標(biāo)準(zhǔn): ASTM E1461, ASTM E2585, DIN EN 821-2, DIN 30905, ISO 22007-4, ISO 18755, ISO 13826; DIN EN 1159-2, 等.
三、ZoomOptics 獲取更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，減小測(cè)量誤差
對(duì)于傳統(tǒng)的 LFA 系統(tǒng)設(shè)計(jì)，檢測(cè)器所覆蓋的檢測(cè)面積通常被調(diào)整為適合樣品的大尺寸（25.4mm）。對(duì)于直徑較小的樣品，通常在樣品之上加上遮光片或遮罩，以盡可能地遮蔽外圍區(qū)域。但由于任何物體都會(huì)發(fā)射紅外輻射，遮光片或遮罩材料也不例外，由此得到的檢測(cè)器信號(hào)不可避免地會(huì)受到影響。該影響的程度大小與樣品與遮罩材料的熱擴(kuò)散系數(shù)的差異有關(guān)。由此導(dǎo)致對(duì)于某些樣品，檢測(cè)器測(cè)得的溫度上升曲線的尾部可能出現(xiàn)持續(xù)上升，或者過早地達(dá)到水平狀態(tài)。不管是哪種情況，都會(huì)導(dǎo)致分析得到的半升溫時(shí)間發(fā)生偏移，由此計(jì)算得到的熱擴(kuò)散系數(shù)產(chǎn)生誤差。
使用 LFA467 配備的 ZoomOptics（號(hào)：DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03）附件，可以更靈活地調(diào)整檢測(cè)器的檢測(cè)范圍，確保檢測(cè)器僅檢測(cè)到樣品上表面的溫度升高過程，無需額外的遮罩，周圍環(huán)境信號(hào)也沒有任何影響。預(yù)設(shè)的檢測(cè)直徑比率為 70%，適合于大多數(shù)應(yīng)用，同時(shí)軟件允許操作者自由調(diào)整該數(shù)值，以適應(yīng)特定的樣品尺寸與應(yīng)用。
