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參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 上海奕楓儀器設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì) 代理商
更新時(shí)間 2020/11/27 14:46:20
訪問次數(shù) 88

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促銷詳情

促銷時(shí)間：

特價(jià)說明：

促銷詳細(xì)：

2020年01月08日至 2020年02月08日

特價(jià)促銷

模內(nèi)澆口分離自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴度；傳統(tǒng)的塑膠模具開模后產(chǎn)品與澆口相連，需二道工序進(jìn)行人工剪切分離，模內(nèi)熱切模具將澆口分離提前至開模前，消除后續(xù)工序，有利于生產(chǎn)自動(dòng)化，降低對(duì)人的依賴。

產(chǎn)品簡介

我也要發(fā)布產(chǎn)品信息

MPS-4G1直接為掃描電鏡SEM和能量色散X射線光譜分析EDXS采集樣品，可判斷顆粒物成分和來源。MPS-3專為掃描電鏡SEM、能量色散X射線光譜分析EDXS和其他顯微分析技術(shù)采集樣品而設(shè)計(jì)的。

詳細(xì)信息在線詢價(jià)

CMI潔凈室氣溶膠分級(jí)采樣器

無塵室、顯微分析、分級(jí)采樣

MPS-4G1

MPS-4G1直接為掃描電鏡SEM和能量色散X射線光譜分析EDXS采集樣品，可判斷顆粒物成分和來源。

MPS-3

潔凈室顆粒物纖維分析分級(jí)采樣器（MPS-3）專為掃描電鏡SEM、能量色散X射線光譜分析EDXS和其他顯微分析技術(shù)采集樣品而設(shè)計(jì)的。采樣器擁有嵌入撞擊級(jí)的標(biāo)準(zhǔn)電子顯微采樣托盤（），采樣后可將采樣托盤直接插入顯微鏡進(jìn)行分析，無需樣品前處理，減少分析費(fèi)用。

此外，樣品收集在小的集中點(diǎn)，分析時(shí)很容易定位在高濃度地方。并且可選擇不同類型的基片材料用于各種顯微技術(shù)，如：X射線熒光分析XRF、投射電鏡TEM、傅里葉變換紅外光譜FTIR、氣相色譜/質(zhì)譜（GC/MS）。

技術(shù)特征

Characteristic

MPS-4G1

SEM兼容，收集板可直接用于電鏡掃描

濃縮樣品，樣品收集在0.01英寸的收集板上，利于電鏡掃描

亞微米級(jí)顆粒物，小可到0.05μm

粒徑分離，四級(jí)撞擊器，四個(gè)不同的粒徑范圍

高流量，7LPM，干凈環(huán)境中采樣4~6h

彈性系統(tǒng)，可拆卸組裝、泵與撞擊采樣器可遠(yuǎn)距離操作

MPS-3

SEM電鏡掃描，分析顆粒物粒徑和形態(tài)

EDX能量色散X射線，分析元素組成

顆粒物無需后續(xù)處理，樣品收集在光滑、導(dǎo)電的低X射線的采樣盤上，可直接進(jìn)行SEM和EDX分析

精確識(shí)別，不同理化性質(zhì)的顆粒物分類收集，可分析單個(gè)顆粒物的性質(zhì)

超細(xì)顆粒物（μm以下），0.05 ~ 0.3μm的顆粒物可在內(nèi)部分離出來

便攜，可多點(diǎn)采樣或連續(xù)多點(diǎn)采樣

粒徑分隔，內(nèi)部撞擊設(shè)備可分離不同粒徑顆粒物

內(nèi)部三級(jí)撞擊板，一級(jí)>2μm、二級(jí)0.3 ~2μm、三級(jí)0.05 ~ 0.3μm

直接轉(zhuǎn)為SEM，收集板為直徑0.5英寸導(dǎo)電石墨或純碳晶片，固定在SEM固定器上，電鏡中使用方便

產(chǎn)品應(yīng)用

Application

MPS-4G1

半導(dǎo)體、制藥、航空航天及其他高精密研究和制造無塵室顆粒物污染分析

電腦硬盤顆粒物采樣（另需連接器）

過程設(shè)備顆粒物排放特性

顆粒物計(jì)數(shù)校準(zhǔn)

MPS-3

判斷來源和形成機(jī)制

半導(dǎo)體、制藥、航空航天及其他高精密研究和制造無塵室顆粒物污染分析

濾膜過濾檢測

電腦硬盤顆粒物采樣

環(huán)境衛(wèi)生和綜合醫(yī)療

技術(shù)參數(shù)

Parameter

MPS-4G1

粒徑分級(jí)（顆粒物密度2g/cm³）

層級(jí)	D₅₀
1	2.0μm
2	0.5μm
3	0.15μm
4	0.05μm

流速:

MPS-4G1	7LPM
MPS-4G1L	2.83LPM

收集板：碳晶板（特殊用途的其他材料可訂購）

電源：120V 50/60Hz 70W

重量：撞擊采樣器1.8kg，泵組件6.4kg

尺寸見右圖

MPS-3

顆粒物粒徑范圍

第1級(jí)	>2.0μm
第2級(jí)	0.3~2.0μm
第3級(jí)	0.05~0.3μm

流速:

MPS-3	2LPM
MPS-3L	0.25LPM

電源：220V 50Hz

重量：3.2kg

尺寸見右圖

應(yīng)用案例

Case

MPS-4G1

1．中國臺(tái)灣電力公司使用MPS-4G1型顯微分析顆粒物/氣溶膠采樣器采集核電站放射性氣溶膠，并將采集到的樣品用掃描電鏡進(jìn)行分析。

2．Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985

3．Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,ａnd Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,ａnd Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp

4．R. Yokelson , S. Urbanski , E. Atlas, Emissions from forest fires near Mexico City, Atmospheric Chemistry and Physics Discussions 7, 3 (2007) 6687-6718

5．Jia Li,Miha´ly Po´sfai, Peter V. Hobbs, and Peter R. Buseck, Individual aerosol particles from biomass burning in southern Africa: 2, Compositions and aging of inorganic particles, JOURNAL OF GEOPHYSICAL RESEARCH, VOL. 108, NO. D13, 8484, doi:10.1029/2002JD002310, 2003

MPS-3

1．Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985

2．Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,ａnd Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,ａnd Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp

3．R. Yokelson , S. Urbanski , E. Atlas, Emissions from forest fires near Mexico City, Atmospheric Chemistry and Physics Discussions 7, 3 (2007) 6687-6718

4．Jia Li,Miha´ly Po´sfai, Peter V. Hobbs, and Peter R. Buseck, Individual aerosol particles from biomass burning in southern Africa: 2, Compositions and aging of inorganic particles, JOURNAL OF GEOPHYSICAL RESEARCH, VOL. 108, NO. D13, 8484, doi:10.1029/2002JD002310, 2003