產(chǎn)品優(yōu)勢

? 測量范圍 0.08 – 2000 μm
? 非常高的測量精度
? 革命性雙激光技術(shù)
? 實用性模塊化系統(tǒng)
? 可快速更換干法、濕法測量
? 易于清理
? 機型小巧

通過一個緊湊的單元實現(xiàn)高分辨率

ANALYSETTE 22 MicroTec plus采用雙激光測量，探測器信息來自于108個測量通道。您的優(yōu)勢：在緊湊的單元內(nèi)大化的提高測量精度以及分辨率。

可變的測試量程

使用ANALYSETTE 22 MicroTec plus進行測試時，可以在兩個測量量程之間選擇其中一個，或者選擇兩個兩成疊加的第三個測量量程。
您的優(yōu)勢: 大化的靈活性并且通過一臺儀器即可實現(xiàn)測試范圍為0.08 – 2000 μm的測量。

FRITSCH-理念: 一臺儀器上配備2束激光

FRITSCH ANALYSETTE 22 MicroTec plus配備兩束半導(dǎo)體激光，綠色激光用于小顆粒的測量，紅外激光用于大顆粒測量。這兩束激光各自都可以通過橫向移動自動準確的完成激光束對準。您的優(yōu)勢：為不同的顆粒粒徑配備理想波長的激光束，完成大量程粒徑范圍的測試，分辨率*，機型小巧。
杰出的FRITSCH理念: ANALYSETTE 22 MicroTec plus機型結(jié)構(gòu)緊湊，通過改變長波長激光-紅色激光的方向，大化的提高了測量大顆粒時精度。 當(dāng)測量小顆粒時，使用波長較短的綠波，探測器以及激光器作為一個整體同時移動-測量單元固定不動。