SFT9455 X射線熒光膜厚測量儀

SFT9455 X射線熒光膜厚測量儀 系列里zui高的機(jī)型就是SFT9455。搭載著75W高性能X射線管和雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計(jì)數(shù)管），符合“薄膜”、“合金膜”、“極微小部分測定”等鍍膜厚度測定要求的高性能膜厚度測量儀。SFT9455還在鍍膜厚度測定功能的基礎(chǔ)之上增加了異物定性和查資料成分分析的功能。

1.搭載雙向分離工檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計(jì)數(shù)管）：搭載在X射線能量分辨率上，優(yōu)秀的半導(dǎo)體檢測器（起作用液化氮）和計(jì)數(shù)率優(yōu)秀的比例計(jì)數(shù)管，能夠根據(jù)運(yùn)用需要對應(yīng)使用。特點(diǎn)是半導(dǎo)體檢測器，能夠區(qū)分Ni和Cu這樣相似的元素。它有以下的特點(diǎn)：　　　·能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu不需要二次過濾的情況下進(jìn)行測定。　　　·對于含Br的打印基板，可以做到不受Br干擾進(jìn)行高精度的Au鍍膜厚度測定。　　　·能夠測定0.01μm以下極薄的Au鍍膜。　

2.薄膜FP軟件：對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運(yùn)用領(lǐng)域?！?/p>

3.適用測定極微小部分　　15μmΦ的準(zhǔn)直管為標(biāo)準(zhǔn)裝備。能夠測定微小部分鍍膜厚度?！?/p>

4.搭載75W高性能X射線管?！?/p>

5.容易對微小領(lǐng)域進(jìn)行觀察。搭載了能4階段切換的可變焦距光學(xué)系統(tǒng)?！?/p>

6.能夠測定大型打印基板的大型平臺。　

7.依據(jù)照明，能夠觀察以往難以觀察的樣品。

8.搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。　

9.利用伺服馬達(dá)精確的驅(qū)動平臺。　　

10.正確的對焦　　利用激光能夠正確得對焦測試樣品。　　

11.報(bào)告制作軟件　　運(yùn)用微軟的軟件能夠簡單得把測定的數(shù)據(jù)制作成書面材料。