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- 公司名稱 北京匯德信科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 北京市
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2019/10/23 13:58:58
- 訪問次數(shù) 942
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Nano analytik研發(fā)了一款基于新型掃描探針光刻系統(tǒng)(SPL)??稍诖髿猸h(huán)境下,高經(jīng)濟(jì)效益、快速直寫10納米以下結(jié)構(gòu)和制備納米級器件。該系統(tǒng)的閉環(huán)回路可實現(xiàn)使用同一掃描探針對納米結(jié)構(gòu)的成像、定位、檢測和操縱。
Nano analytik公司成立于2010年4月,技術(shù)源自德國伊爾梅瑙科技大學(xué),公司的核心競爭力在于傳感器、微系統(tǒng)和控制技術(shù),公司宗旨是讓納米分析技術(shù)簡單化,在保證科研嚴(yán)謹(jǐn)性的同時提高科研效率。
Nano analytik研發(fā)了一款基于新型掃描探針光刻系統(tǒng)(SPL)??稍诖髿猸h(huán)境下,高經(jīng)濟(jì)效益、快速直寫10納米以下結(jié)構(gòu)和制備納米級器件。該系統(tǒng)的閉環(huán)回路可實現(xiàn)使用同一掃描探針對納米結(jié)構(gòu)的成像、定位、檢測和操縱。
掃描探針光刻系統(tǒng)(SPL)
場發(fā)射低能電子束
大幅降低電子束背底散射
幾乎消除電子束臨近效應(yīng)
無需調(diào)制電子束聚光
10 nm 以下光刻精度
接近原子級分辨的套刻精度
線寫速度高達(dá) 300 μm/s
大氣環(huán)境下可實現(xiàn)正負(fù)光刻
正光刻流程無需顯影步驟
大范圍分步重復(fù)工藝
Mix & Match 混合光刻模式
閉環(huán)系統(tǒng):光刻成像同一針尖反復(fù)交替進(jìn)行
多針尖并聯(lián)陣列提高效率
光刻模式 | 正光刻、負(fù)光刻 |
工作環(huán)境 | 大氣、真空 |
小線寬 | 5 nm (驗收指標(biāo)) |
直寫速度 | 300 μm/s |
套刻精度 | < 7 nm |
拼接精度 | < 10 nm |
大光刻區(qū)域 | 200 μm x 200 μm |
大樣品尺寸 | 直徑:150 mm (6 英寸) |
占用空間 | 80 cm x 100 cm x 190 cm |
工作模式 | 頂部XYZ掃描頭 |
掃描范圍 | (XYZ) 10 μm × 10 μm × 5 μm 可擴(kuò)展至 200 μm × 200 μm |
定位精度(XYZ) | 0.01 nm;0.01 nm;0.01 nm |
傳感器 | 壓阻閉環(huán)傳感 |
輸入/輸出頻道 | 3 |
工作模式 | 底部XY定位器 |
運動范圍(XY) | 18 mm × 18 mm 可擴(kuò)展 150 mm × 150 mm |
大運動速度 | 20 mm/s |
運動精度 | 7 nm |
運動重復(fù)性 | 80 nm (每運動100 μm) |
樣品/探針接近 | 自動(無需激光對準(zhǔn)) |
探針調(diào)諧 | 自動 |
懸臂梁激發(fā)模式 | 雙材料熱機(jī)械激發(fā) |
檢測原理 | 壓阻讀數(shù) |
掃描模式 | 接觸式,非接觸式 |
探針移動范圍 | 20 mm × 20 mm × 10 mm |
精度 | < 10 nm |
重復(fù)性 | ± 25 nm |
AFM成像范圍 | 10 μm × 10 μm × 5 μm 可擴(kuò)展至 200 μm × 200 μm |
本底噪聲 | 0.01 nm rms 垂直方向 |
橫向精度 | 99.7% 閉環(huán)掃描 |
掃描速度 | 0.01 線/秒 至 10 線/秒 |
實時圖像顯示 | 二維、三維形貌,相位,頻移,振幅 |
分辨率 振幅/相位 | 16-bit |
反饋控制平臺 | 實時FPGA |
帶寬 | 8 MHz |
計算機(jī)接口 | USB, 以太網(wǎng)可選 |
傳感器調(diào)節(jié) | 0-4 V可編程電橋 |
實時修正 | 線, 面, 多項式 |
輪廓線測量 | YES |
粗糙度測量 | YES |
對比度/亮度/色彩調(diào)節(jié) | YES |
3D 圖像 | YES |
線平均 | YES |
圖像輸出 | bmp, png, jpg格式 |
原始數(shù)據(jù)輸出 | txt格式 |
圖像后續(xù)處理軟件 | Gwyddion, WSxM |
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