FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優(yōu)點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整。測試點會自動地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是*一家實現(xiàn)了這種設(shè)計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以*地適應(yīng)于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
儀器介紹:
適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能
頻譜庫中允許創(chuàng)建從元素鈦至鈾的任何一種新的應(yīng)用
能通過“應(yīng)用工具箱”（由一個帶所有應(yīng)用參數(shù)的軟盤和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊組成）使應(yīng)用的校準(zhǔn)簡單化
畫中畫測試件查看和數(shù)據(jù)顯示，帶快速移動焦距功能放大試件圖像；計算機生成的刻度化的瞄準(zhǔn)十字星，并有X-射線光束大小指示器（光束的大小取決于測量的距離）
圖形化的用戶界面，測試件的圖像顯示可插入于測試報告中
測量模式用于：
單、雙及三層鍍層系統(tǒng)
雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量
雙層鍍層，其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析（兩層的厚度和合金成分都能被測量）
能分析多達四種金屬成分的合金；電鍍液中金屬離子含量；
可編程的應(yīng)用項圖標(biāo)，用于快速應(yīng)用項選擇
完整的統(tǒng)計功能，SPC圖，標(biāo)準(zhǔn)的概率圖和矩形圖評估
報告生成，數(shù)據(jù)輸出
語言可選擇：英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，及中文
菜單中的某些選擇項可*使用
注：基礎(chǔ)WinFTM軟件版本不允許創(chuàng)建新的應(yīng)用，所要求的應(yīng)用不得不在定貨時明確。當(dāng)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊與儀器一起定購時，可在交貨前預(yù)先創(chuàng)建應(yīng)用。若沒有定購校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)塊，則只可使用已預(yù)裝的*無需標(biāo)準(zhǔn)塊的測量應(yīng)用。
可選擇的Super WinFTM軟件（訂貨號602-950）提供了以下的附加功能：
可隨意創(chuàng)建測量應(yīng)用
可把每種測量模式的測量范圍設(shè)定為想要的理論上的測量精度
快速的頻譜分析以決定合金成分
技術(shù)參數(shù):
1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
2.原始射線從下*；
3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至*的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
4.視準(zhǔn)器組：圓直徑為0.3；在附加費用的基礎(chǔ)上可選擇0.05X0.3mm長方形視準(zhǔn)器
5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大約為45kg；
6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）240 mm×360 mm×380mm）帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
7.手動X-Y工作臺（平面板：360 mm寬×240 mm深），帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運行.
8.試件查看用標(biāo)準(zhǔn)的彩色攝像機；
9.測量開始/結(jié)束按鈕，及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。
主要特點:
FISCHERSCOPE® XUL®設(shè)計為X-射線管和探測器系統(tǒng)位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優(yōu)點，尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件，例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數(shù)情況下，被測試工件的表面可直接放置于測量臺上，這就避免了在從上往下測量系統(tǒng)中需要的測量距離調(diào)整。測試點會自動地調(diào)整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是*一家實現(xiàn)了這種設(shè)計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。
與WinFTM® V.6 軟件及校樣標(biāo)準(zhǔn)塊Gold Assay配合，XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分，可以*地適應(yīng)于快速，非破壞性和精確的測量珠寶及貴金屬中金的成分。
