CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。

產(chǎn)品簡介：
主要特點
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析?；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應(yīng)用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定zui多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點zui小可達0.025 x 0.051毫米。
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：
 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。
 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。
 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。
 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。

技術(shù)參數(shù)
CMI900/950主要技術(shù)規(guī)格如下：

No. 主要規(guī)格 規(guī)格描述
1 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
X射線管功率可編程控制
裝備有安全防射線光閘

2 濾光片程控交換系統(tǒng) 根據(jù)靶材，標準裝備有相應(yīng)的一次X射線濾光片系統(tǒng)
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口

3 準直器程控交換系統(tǒng) zui多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制
多種規(guī)格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

4 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)

5 X射線探測系統(tǒng) 封氣正比計數(shù)器
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路

6 樣品室 CMI900 CMI950
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室
－zui大樣品臺尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm
任選：50.8mm x 152.4mm
50.4mm x 177.8mm
101.6 x 177.8mm
177.8 x 177.8mm
610mm x 610mm 300mm x 300mm
－Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ程控時，152.4mm
XY軸手動時，269.2mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制

－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
激光輔助光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

7 計算機系統(tǒng)配置 IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內(nèi)存，1.44M軟驅(qū)，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯，56K調(diào)制解調(diào)器?；萜栈驉燮丈噬珖娔蛴C。
（由于計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，zui終計算機配置將在訂貨時確定，但應(yīng)等同或優(yōu)于上述配置）
8 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測厚范圍 可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。請告訴牛津儀器您的具體應(yīng)用，我們將列表可測定的厚度范圍
－基本分析功能 無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數(shù)方法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標準樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92
可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
組成分析時，可同時測定15種元素
貴金屬檢測，如Au karat評價
材料和合金元素分析
材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能：校正X射線管、探測器和電子線路的變化對分析結(jié)果的影響，自動消除系統(tǒng)漂移
譜峰計數(shù)時，峰漂移自動校正功能
譜峰死時間自動校正功能
譜峰脈沖堆積自動剔除功能
標準樣品和實測樣品間，密度校正功能
譜峰重疊剝離和峰形擬合計算
－測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式
測量位置預(yù)覽功能
激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能 設(shè)定測量點
One or Two Datumn (reference) Points on each file
測量位置預(yù)覽(圖表顯示)

－統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表
直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲功能
任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師