材料研究領(lǐng)域的* X 射線衍射系統(tǒng)

材料研究領(lǐng)域的* X 射線衍射系統(tǒng)
D8 DISCOVER（帶 DAVINCI 設(shè)計(jì)）增加了部件實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、即插即用以及*集成化的二維XRD2功能，提高了使用便利性。這些*的特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域 X 射線衍射應(yīng)用之間切換，包括：反射率測(cè)量、高分辨率衍射、面內(nèi)掠入射 (IP-GID)、小角 X 射線散射(SAXS) 以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。

無(wú)需工具即可輕松切換衍射幾何的彈簧鎖 X 射線光學(xué)器件
經(jīng)過(guò)工廠校準(zhǔn)后的 SNAP-LOCK X射線光學(xué)元件可提供真正“即插即用”功能，包括在zui大限度減少用戶干預(yù)的情況下無(wú)需使用工具即可自動(dòng)更換光路。
X射線光學(xué)元件模塊、探測(cè)器或安裝在儀器上的任何附件均可通過(guò)相關(guān)參數(shù)和分析功能實(shí)現(xiàn)注冊(cè)，包括強(qiáng)大的組件沖突探測(cè)功能。