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簡介:Agar進(jìn)口探針/取樣針,各規(guī)格FIB探針、全鎢取樣針,此為全鎢探針,針柄和針尖都為鎢,針尖大使用壽命內(nèi)規(guī)格為<0.5um、AFM探針可用于普通較硬樣品,掃描形貌
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簡介:FIB全鎢取樣針,F(xiàn)IB探針,此為全鎢探針,針柄和針尖都為鎢,針尖大使用壽命內(nèi)規(guī)格為<0.5um,7-10°錐角,針柄直徑為0.508mm,針柄長度為34.036mm。數(shù)量為10根/盒。...
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簡介:可視的探針,可應(yīng)用到對于那些針尖需要被精確定位或必須針尖可見的應(yīng)用(例如,用于納米操作)來說,ATEC是必然的首*。由于其超小的半錐角*,ATEC系列產(chǎn)品在陡峭的小尺寸圖案樣品測量中表現(xiàn)出*的性能...
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