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簡介：CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用

簡介：CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，連接器等...

簡介：牌：OXFORDCMI(英國牛津)簡介：適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢...

簡介：XRF-2000系列熒光金屬鍍層測厚儀

簡介：·CMI150兩用測厚儀(膜厚儀)·CMI233雙探頭測厚儀(膜厚儀)·CMI243測厚儀(測鐵上鍍鋅、鎳可達(dá)到700測厚儀精度)·CMI700測厚儀(膜厚儀)·X射線熒光測厚儀(膜厚儀)

簡介：應(yīng)用范圍：?測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成.測量范圍從22(Ti)到92(U).?5層(4鍍層+基材)/15元素/共存元素校正?組成成分分析時可同時測定15種元素?測試方法全面符合ISO3...

簡介：UTX600B是優(yōu)特X射線熒光測厚儀可滿足所有鍍層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層測量儀，實現(xiàn)了超微小面積，高精度無損測量。此儀器特別適合于小的鍍層測量，如端子，LED,連接器，細(xì)小的金線，在五金，汽...

簡介：型號：A1531153

簡介：型號：A1531153

簡介：韓國MicroPioneerX-射線熒光膜厚儀/測厚儀，主要應(yīng)用于一般工件、線路板、五金電鍍、半導(dǎo)體支架電鍍、人造首飾、端子及電子元器件等產(chǎn)品的各種鍍層行業(yè)的一款儀器