HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀 參考價(jià)：面議
動(dòng)態(tài)光散射粒徑分布測(cè)定裝置新型號(hào)，高靈敏度、高精度的測(cè)量；*表征單一體系納米尺度粒子；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子、金屬納米粒子、碳黑、制...
激光粒度儀 參考價(jià)：面議
激光粒度分析儀以在亞微米范圍內(nèi)的*測(cè)量能力而聞名，新型號(hào)除了保有這一優(yōu)勢(shì)還發(fā)展出全新的特性。HORIBA依據(jù)多年經(jīng)驗(yàn)，進(jìn)一步完善數(shù)據(jù)運(yùn)算方法，以不斷滿(mǎn)足用戶(hù)對(duì)更...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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