由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來(lái)越重要，導(dǎo)致工業(yè)制造商對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴(yán)格。除了產(chǎn)量大化外，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當(dāng)尺寸和形態(tài)的顆粒。
在本篇文章中，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實(shí)現(xiàn)顆粒均勻分散，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)分析顆粒。
分散粉末樣品的原因
為了確保顆粒分析的準(zhǔn)確性，不僅需要分離單個(gè)顆粒，而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導(dǎo)電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區(qū)別。
圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導(dǎo)電膠（左）和使用 Nebula™ 顆粒分散器（右）之間的掃描電鏡圖比較。
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