BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀-落鏢沖擊強(qiáng)度的標(biāo)注要求

BB/T0041-2007包裝用多層共擠阻隔膜的落鏢沖擊強(qiáng)度質(zhì)量要求見(jiàn)表1-14.

表1-14  落鏢沖擊質(zhì)量要求

    GB/T4456-2008包裝用聚乙烯吹塑料薄膜的落鏢沖擊質(zhì)量要求：樣品10片，按表1-15中要求進(jìn)行落鏢沖擊試驗(yàn)，不破裂樣品數(shù)≥8為合格（PE-MD薄膜不要求）。

表1-15 落鏢質(zhì)量

BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀適用于厚度小于1mm的塑料薄膜或薄片在給定高度的自由落鏢沖擊下，測(cè)定50%塑料薄膜或薄片試樣破損時(shí)的沖擊質(zhì)量和能量。格瑞特落鏢沖擊試驗(yàn)儀試驗(yàn)過(guò)程智能化，大大提高了工作效率 ，落鏢式?jīng)_擊試驗(yàn)機(jī)試樣氣動(dòng)夾緊、釋放，減少了試驗(yàn)誤差與試驗(yàn)時(shí)間 ，試驗(yàn)過(guò)程無(wú)需人工畫(huà)圖標(biāo)記，數(shù)據(jù)參數(shù)系統(tǒng)液晶顯示 ，試驗(yàn)數(shù)據(jù)系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別、計(jì)算，無(wú)需人工干預(yù) ，試驗(yàn)自動(dòng)結(jié)束，結(jié)果多種單位顯示，微打輸出。

BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀詳細(xì)介紹：
特征
微電腦計(jì)算、液晶顯示、菜單式界面
A、B雙試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/font>
內(nèi)置觀(guān)察燈
試樣氣動(dòng)夾緊、釋放
落鏢電磁吸掛、自動(dòng)釋放
手動(dòng)與腳踏二種啟動(dòng)模式
計(jì)算系統(tǒng)自動(dòng)判斷試驗(yàn)狀態(tài)
結(jié)果多種單位顯示、打印
微型打印機(jī)
RS232接口，專(zhuān)業(yè)計(jì)算機(jī)軟件
網(wǎng)絡(luò)傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀測(cè)試原理
試驗(yàn)開(kāi)始時(shí)，首先選擇試驗(yàn)方法，估計(jì)一個(gè)初始質(zhì)量和Δm值，進(jìn)行試驗(yàn)，如果*個(gè)試樣破損，用砝碼Δm減少落體質(zhì)量；如果*個(gè)試樣不破，須用砝碼Δm增加落體質(zhì)量依此進(jìn)行試驗(yàn)?？傊?，利用砝碼減少或增加落體質(zhì)量，取決于前一個(gè)試樣是否破損。20個(gè)試樣試驗(yàn)后，計(jì)算破損總數(shù)N，如果N等于10，試驗(yàn)完成；如果N小于10，補(bǔ)充試樣后，繼續(xù)試驗(yàn)直到N等于10；如果N大于10，補(bǔ)充試樣后，繼續(xù)試驗(yàn)直到不破損的總數(shù)等于10為止，zui后由系統(tǒng)自動(dòng)計(jì)算沖擊結(jié)果。 
BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量方法：A法、B法（可選）
測(cè)試范圍：A法：50～2000g B法：300～2000g
測(cè)試精度：0.1g（0.1J）
試樣裝夾：氣動(dòng)
氣源壓力：0.6MPa（氣源用戶(hù)自備）
氣源接口：Ф8mm 聚氨酯管
試樣尺寸：＞150mm×150mm
電　　源： AC 220V 50Hz
凈　　重： 70kg
BMC-B1落鏢沖擊試驗(yàn)儀標(biāo)準(zhǔn)
GB 9639、ASTM D1709、JIS K7124
落鏢沖擊試驗(yàn)儀配置
標(biāo)準(zhǔn)配置：A法配置、微型打印機(jī)
選 購(gòu) 件：B法配置、專(zhuān)業(yè)軟件、通信電纜
注：本機(jī)氣源接口系Ф8mm聚氨酯管；氣源用戶(hù)自備。

（1）計(jì)算結(jié)果。

 沖擊破損質(zhì)量mf按下式計(jì)算，單位為克（g）。

                 mf=mo+△m（A/N-0.5）

式中 mo——試驗(yàn)破損時(shí)的zui小落體質(zhì)量，g；

△   m——增減用的相同配重快質(zhì)量，g。

             k

          A=Σ nizi   

            i=1

  式中ni——落體質(zhì)量為mi時(shí)的試樣破損數(shù)；

       zi——落體質(zhì)量由mo到mi時(shí)的配重塊數(shù)（mo時(shí)，z為0）。

             k

          N=Σ ni   

             i=1

式中N——破損試樣總數(shù)。