電子標(biāo)簽動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
電子標(biāo)簽動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。芯片IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
芯片IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī) 參考價(jià):面議
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī) 用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。智能卡動(dòng)態(tài)雙彎扭檢測(cè)儀 參考價(jià):面議
智能卡動(dòng)態(tài)雙彎扭檢測(cè)儀產(chǎn)品用途:用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀 參考價(jià):面議
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。公交卡反復(fù)彎折試驗(yàn)機(jī)* 參考價(jià):面議
公交卡反復(fù)彎折試驗(yàn)機(jī)*用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。熱變形維卡試驗(yàn)機(jī)* 參考價(jià):面議
熱變形維卡試驗(yàn)機(jī)*該產(chǎn)品操作簡(jiǎn)單、使用方便、性能穩(wěn)定、產(chǎn)品精度高,并在試驗(yàn)過(guò)程中可時(shí)實(shí)監(jiān)控試驗(yàn)溫度和變形量;試驗(yàn)結(jié)束時(shí)系統(tǒng)自動(dòng)停止加熱,并可打印試驗(yàn)報(bào)告和試驗(yàn)曲...Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀 參考價(jià):面議
Card動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試儀本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
智能卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)?用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià):面議
電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī) 參考價(jià):面議
IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)