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LS 13 320 XR  貝克曼庫(kù)爾特激光衍射粒度分析儀

貝克曼庫(kù)爾特新一代LS 13 320 XR將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平，升級(jí)版PIDS專(zhuān)項(xiàng)技術(shù)、優(yōu)化的132枚檢測(cè)器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。

產(chǎn)品描述

LS 13 320 XR  貝克曼庫(kù)爾特激光衍射粒度分析儀將激光衍射粒度分析提升到了一個(gè)更高的水平，升級(jí)版PIDS專(zhuān)項(xiàng)技術(shù)、優(yōu)化的132枚檢測(cè)器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測(cè)量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測(cè)到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測(cè)量；新型的干、濕進(jìn)樣模塊，“即插即用”，滿(mǎn)足不同的分析要求，靈活便利；直觀(guān)的軟件和觸摸屏設(shè)計(jì)，大大簡(jiǎn)化了儀器的操作，僅需點(diǎn)擊幾次便可獲得所需數(shù)據(jù)。LS 13 320 XR將為您帶來(lái)測(cè)量的新體驗(yàn)！

主要特點(diǎn)

• 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
• 符合FDA的21 CFR Part 11標(biāo)準(zhǔn)
• 檢測(cè)器數(shù)量更多，高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測(cè)器，對(duì)應(yīng)高達(dá)136個(gè)真實(shí)數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準(zhǔn)確的真實(shí)粒度測(cè)量。
• 專(zhuān)項(xiàng)設(shè)計(jì)的“X”型對(duì)數(shù)排布檢測(cè)器陣列，可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，不管單峰、多峰，準(zhǔn)確分析粒度分布。
• 全自動(dòng)運(yùn)算分析功能，多峰自動(dòng)檢測(cè)，無(wú)需事先猜測(cè)峰型，無(wú)需選擇分析模型，提供客觀(guān)的報(bào)告。
• 升級(jí)版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測(cè)量。
• PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測(cè)小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測(cè)納米級(jí)的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強(qiáng)大，真正10nm的測(cè)量可使其作為獨(dú)立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源，無(wú)需預(yù)熱，7萬(wàn)小時(shí)以上開(kāi)機(jī)使用壽命 。
• 并行式信號(hào)采集與傳輸，確保信號(hào)保持高信噪比、無(wú)時(shí)差、高通量。
• 多波長(zhǎng)和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)的準(zhǔn)確性分析獲得高度保障。
• 多種自動(dòng)化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換，高效便利。
• 新一代觸摸屏設(shè)計(jì)ADAPT分析軟件，操作更直觀(guān)，無(wú)需操作經(jīng)驗(yàn)，簡(jiǎn)單三步完成測(cè)量，直觀(guān)醒目的導(dǎo)航輪，僅需一步實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)顯示與導(dǎo)出。
• ADAPT軟件自動(dòng)對(duì)測(cè)量結(jié)果標(biāo)準(zhǔn)綠色或紅色，自動(dòng)合格/不合格管理，實(shí)現(xiàn)直接質(zhì)控。
• 軟件配有強(qiáng)大的光學(xué)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，具有創(chuàng)新的“Zero-Time”即時(shí)光學(xué)模型系統(tǒng)，只需一秒即可建立新的光學(xué)模型，提供客觀(guān)準(zhǔn)確的分析報(bào)告。
• 儀器配有自檢診斷功能，測(cè)試過(guò)程中隨時(shí)顯示測(cè)量情況。

技術(shù)參數(shù)：

• 粒徑范圍：10納米-3500微米 （峰值）
• 主光路激光光源：光纖連接的固體激光器
• 檢測(cè)器：132枚獨(dú)立物理角度檢測(cè)器
• 真實(shí)分析通道：136個(gè)
• 多波長(zhǎng)測(cè)量：475nm、613nm、785nm及900nm
• 光學(xué)理論模型：全程Mie理論；Fraunhofer理論
• 準(zhǔn)確性誤差：小于+/- 0.5%
• 重現(xiàn)性誤差：小于+/- 0.5%