進口FIB載網(wǎng) 參考價:面議
進口FIB載網(wǎng),Omniprobe 載網(wǎng)于FIB,載網(wǎng)上的齒針可為樣品提供良好的支撐,下面的編號在TEM中可準確定位樣品。此載網(wǎng)材質為銅,含有3個齒針兩個V型和...進口探針/取樣針 參考價:面議
Agar進口探針/取樣針,各規(guī)格FIB探針、全鎢取樣針,此為全鎢探針,針柄和針尖都為鎢,針尖大使用壽命內規(guī)格為<0.5um、AFM探針可用于普通較硬樣品,掃描形...FIB全鎢取樣針 參考價:面議
FIB全鎢取樣針,F(xiàn)IB探針,此為全鎢探針,針柄和針尖都為鎢,針尖大使用壽命內規(guī)格為<0.5um,7-10°錐角,針柄直徑為0.508mm,針柄長度為...瑞士進口鑷子 參考價:面議
Agar 瑞士進口鑷子,Dumont鑷子有4種材質:碳鋼,不銹鋼(Inox),Dumoxel及Dumostar。Inox:是由C,Mn,Cr和Si構成的鉻合金不...進口樣品臺及存儲盒 參考價:面議
進口樣品臺及存儲盒 SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺,適用于Zeiss,F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡。截面單夾片便于固定樣品到樣品臺側面,來觀察樣品截面。適用于Ze...徠卡三離子束切割儀 參考價:面議
LEICA EM TIC 3X徠卡三離子束切割儀是一款*的三離子束切割儀,可對軟硬復合型或應力敏感型材料樣品進行離子束轟擊,獲得樣品截面,便于SEM觀察樣品內部...LEICA EM TXP 精研一體機 參考價:面議
LEICA EM TXP 精研一體機是一款*的可對目標區(qū)域進行精.確定位的表面處理工具,特別適合于SEM, TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。...徠卡冷凍超薄切片系統(tǒng) 參考價:面議
徠卡冷凍超薄切片系統(tǒng) 只要數(shù)分鐘,即可將 Leica EM FC7 冷凍超薄切片附件裝載到 Leica EM UC7 上,一體化的冷凍超薄切片機擁有諸多特性,為...徠卡超薄切片機 參考價:面議
徠卡超薄切片機 徠卡顯微系統(tǒng)為用戶帶來全新的樣品制備技術:Leica EM UC7超薄切片機以及Leica EMFC7冷凍超薄切片附件,這款超薄切片機可以進行半...徠卡高真空鍍膜儀 參考價:面議
徠卡高真空鍍膜儀 是一款多功能型高 真空鍍膜系統(tǒng),用于制備超薄,細顆粒的導電金屬膜和碳膜,以適用于FE-SEM和TEM超高分辨率分析所需的鍍膜要求。這一款全自動...