白光干涉薄膜厚度測量儀Delta 參考價:面議
白光干涉薄膜厚度測量儀Delta利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。白光干涉測厚儀 參考價:面議
TF200白光干涉測厚儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)